​次世代ナノプローブ技術委員会

第51回「光子制御技術の最先端　〜単一光子発生・単一量子系観測・メタマテリアル」

日時：2008年7月17日、18日
場所：慶應義塾大学日吉キャンパス来往舎

7月17日

1. 「単一光子顕微鏡」小宮山進（東大）

2. 「化学機能探針による物質同定」福井賢一（阪大）

3. 「単一光合成アンテナ複合体の分光」松下道雄（東工大）

4. 「フォトニック結晶」　岩本敏（東京大）

5. 「単一光子・相関光子発生技術」枝松 圭一（東北大）
    

7月18日

1. 「近接場光学顕微鏡による単一量子系イメージング分光」斎木敏治（慶応大）

2. 「メタマテリアル概論」石原照也（東北大）

3. 「原子間力顕微鏡における高精度な探針位置制御技術の開発とその応用」阿部真之（阪大）（ナノプローブ賞受賞講演）

4. 新製品紹介（Veeco Instruments）

5. 新製品紹介（Agilent Technologies）

第53回「最新CMOS半導体評価技術とBeyond-CMOSの有力素子:グラフェン」

日時：2009年1月8日、9日
場所：キャンパスプラザ京都
 

1月8日：新半導体素子：グラフェン特集

1. グラフェン：総論（物性，作成法一般について）（北海道大学　徳本洋志）

2. Emerging research deviceとしてのグラフェンの展望とグラフェン・オン・Si技術 （東北大学　末光眞希）

3. グラフェンのスピンデバイス（筑波大学　神田晶申）

4. SiC上のグラフェンの現状とプローブ技術の展望（NTT 永瀬雅夫）

5. 単層グラフェン薄膜の形成と透明電極応用（埼玉大学　上野啓司）

6. グラフェンの低温物性（東京大学　福山 寛）

7. グラフェンの新しい成膜技術（早稲田大　大島忠平）

1月9日：次世代半導体用最新評価技術

1. 次世代MOSFETを支える高精度ホログラフィの最前線（NEC　五十嵐信行)

2. TEM-CTによる半導体内部立体構造観察（阪大　鷹岡昭夫）

3. 測長AFMによるデバイス立体形状測定（産総研　権太　聡）

4. 近接場ラマン分光を用いた局所歪み計測（理研　早澤紀彦）

5. KFMによる半導体不純物分析の最前線（静岡大　田部道晴）

6. ナノワイヤの伝導機構評価とデバイス応用への課題（NIMS、久保 理）

第55回 「SPMと関連技術の未来予想　-SPMロードマップ2010-2011へ向けて-」

日時：2009年7月23日、24日
場所：桐生地域地場産業振興センター　

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７月２３日

1. 「過去のSPMロードマップの点検と新ロードマップに向けて」　森田清三

2. 「SPMの現状概観とロードマップ点検」富取正彦、菅原康弘

3. 「SPMの応用技術とロードマップ点検」保坂純男、山田啓文、藤田（高）、西川治

4. 「SPMの新技術動向とロードマップ点検」米田忠弘、山田啓文、吉村雅満

5. パネル討論「SPMへの期待・可能性を語る」
    

７月２４日

1. SPM標準化委員会

2. 「SPMの応用とロードマップ点検」臼田宏治、末岡和久、大西洋、田中秀吉

3. 「SPMの理論とロードマップ点検」塚田捷

4. パネル討論「SPMロードマップ2010-2011へ向けて（“SPMの夢は実現するか？”新たな夢への道程）」
   富取正彦、臼田宏治、住友弘二、久保 理、その他全員

第57回  1.「表面の物性（粘弾性など）測定のためのAFMの新しい測定法 （ねじれ振動を用いたAFMと多周波数AFMを中心として）」
2. 「原子レベルのスピン検出」

日時：平成22年1月7日、8日
場所：大阪大学（吹田キャンパス）銀杏会館

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１月７日

1. 「超音波共振顕微鏡を用いた固体の粘弾性測定」 荻 博次　（阪大）

2. 「広帯域励振による粘弾性計測」影島　賢巳（阪大）

3. 「生体分子の粘弾性計測」 川上　勝（北陸先端大）

4. 「ソフトマター表面の粘弾性測定」中嶋　健（東北大）

5. 「ねじれ振動AFMによる摩擦力測定」 川勝　英樹　（東大）
    

１月８日

1. 「スピン偏極トンネル顕微鏡」 川越 毅　（阪教育大）

2. 「ESR-STM」米田　忠弘　（東北大）

3. 「単一分子スピンの検出」 高木　紀明　（東大）

4. 「非弾性トンネル分光によるスピン検出」菅滋正、宮町俊生　（阪大）

5. 「磁気交換力顕微鏡によるスピン検出」末岡　和久 （北大）

第59回研究会
"Imaging of Interfaces in Liquids and Applications to Biomimetic Materials"
"Fundamental Standardization for AFM"
"Standardization of Various Nano-probe Technology"

日時　2010年8月4日，5日
場所：石川県立音楽堂　邦楽ホール

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８月４日

"Imaging of Interfaces in Liquids and Applications to Biomimetic Materials"

1. "Zero phase mode atomic force microscopy", L. Pham Van (CEA/DSM/IRAMIS/SPCSI, France)

2. "New techniques for AFM based force measurement", Sean O'Shea (Institute of Materials Research and Engineering, Singapore)

3. "Combined atomic force-scanning electrochemical microscopy: nanoelectrochemistry at the AFM-Tip", Christine Kranz (University of Ulm, Germany)

4. "Atomic resolution observation of soluble crystals in liquid by frequency-modulation AFM", Ken Nagashima (Osaka University)

5. "Organization and AFM observation of photosynthetic membrane proteins assembled into planar lipid bilayer", Takehisa Dewa (Nagoya Institute of Technology)

6. "Subnanometer-resolution FM-AFM imaging of biological systems in liquid", Takeshi Fukuma (Kanazawa University)
   
   ナノプローブ賞受賞講演

7. "Watching protein dynamics in action with high-speed AFM", Takayuki Uchihashi (Kanazawa University)

8. "Dynamic structural changes in single receptor protein observed with fast-scanning atomic force microscopy", Youichi Shinozaki (NTT Basic Research Laboratories)

9. "Small amplitude mono- and bi-modal dynamic force microscopy/spectroscopy for vertical and lateral force detections", Shigeki Kawai (University of Basel, Switzerland)
    

８月５日

"Fundamental standardization for AFM"

1. "Nanoscale dimensional metrology and standardisation", Gaoliang Dai (PTB, Germany)

2. "Calibration of dynamic sensors for noncontact-atomic force microscopy", Gordon A. Shaw (NIST, USA)

3. "Drift measurement of SPM", Wenhao Huang (Univ.of Science and Technology of China)

4. "Improved methods, interlaboratory comparison and standardization of AFM cantilever spring constant calibration", Charles Clifford (NPL , UK)

5. "Probe artifacts and image reconstruction", D. Fujita (NIMS, Japan)

"Standardization of various nano-probe technology"

1. "Characterization of soft materials", Jun Hu (Shanhai Institute of Applied Physics, China)

2. "Standardization of nanoscale optical microscopy", Jeongyong Kim (University of Incheon, Korea)

3. "Standardization of throughput in Near-field scanning optical microscopy", Tadashi Mitsui (NIMS,)

第52回「化学・材料産業界のSPMニーズ」

日時：2008年11月26日
場所：島津製作所東京支社
 

1. 磁気デバイス評価におけるSPMへの期待 （東芝）才田 大輔

2. 基板上クラスターと触媒表面化学 （豊田中央研究所）渡邊 佳英

3. 極微小領域解析技術としてのSPMへの期待 （三井化学）松岡 修

4. 色素増感太陽電池の開発とプローブ顕微鏡観察 （シャープ）小出 直城

5. 単一分子レベルでの受容体タンパク質の機能観察 （NTT）住友 弘二

6. エネルギー変換技術とナノテク・バイオとの接点 （AIST）本間 格

7. 静電気力顕微鏡による表面電位測定 （トレックジャパン）東尾 順平

第54回 「自動車産業の研究開発におけるナノプローブ技術のニーズ」

日時：2009年4月17日
場所：産総研臨海副都心センター 

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1. 「EV普及に向けて急発展する高性能パワーデバイス－分析技術SiCデバイス開発とその接点−」　谷本　智（日産自動車）

2. 「SSRMによる埋め込みトレンチ型SiC-JFET微小領域の不純物濃度評価」杉山　尚宏（デンソー）

3. 「固体高分子燃料電池の過去・現在・未来」堀　美知郎（大同大）

4. 「固体高分子形燃料電池用電解質膜の構造・物性解析　〜SPMへ期待すること〜」太平　昭博（産総研）

5. 「燃料電池に用いられるナフィオン膜のSPM評価」梅村　和夫（東理大）

6. 「『材料の気持ち』を測るビジネス　−『ナノ物性』はナノスケール物性ではない−」叶　際平（日産アーク）

7. 「ディーゼルエンジンから排出されるナノPM粒子のAFMによるキャラクタリゼーション」光岡　拓哉（豊田中研）

第56回 「ナノ・バイオテクノロジーの現状と展望 −ナノプローブ技術に期待されるもの−」

日時：2009年11月10日
場所：(独)情報通信研究機構本部　

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1. 「高速原子間力顕微鏡による生体分子のダイナミクス観察 〜現状と将来展望〜」　内橋　貴之　（金大）

2. 「医療機器の安全性評価に必要なナノイメージングとは？　〜現状と将来〜」中岡　竜介　（国立医薬品食品衛生研究所）

3. 「頭髪化粧料の開発におけるＡＦＭの有用性について」　
   北野　宏樹　（ホーユー株式会）

4. 「生体親和性の高い架橋剤による医療用材料の創製」　　
   田口　哲志　（物材機構）

5. 「生体親和性ポリマーナノ粒子細胞イメージングプローブ」　
   石原　一彦　（東大）

6. 情報通信研究機構内見学：日本標準時をつくる原子時計、その周辺技術の見学

第58回「走査プローブ顕微鏡における探針関連技術の現状と展望」

日時：2010年4月13日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

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1. 「水晶振動子を用いた小振幅AFMによる高分解能観察」江口 豊明, 安 東秀, 長谷川幸雄（東大）

2. 「AFMを用いた細胞解析技術−ナノスケール針によるセルサージェリー」中村 史（産総研）

3. 「カーボンナノチューブ探針」吉村 雅満（豊田工大）

4. 「単結晶ダイヤモンドプローブ開発とその評価」　小山浩司、会田秀雄、砂川和彦（並木精密宝石）

5. 「探針評価技術の現状と展望」井藤 浩志（産総研）

6. 「ナノ計測のためのマイクロプローブ」小野 崇人（東北大）

第60回「半導体評価技術におけるSPMの新展開を探る」（第154委員会と合同）

日時：2010年11月25日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター
 

1. 「半導体界面制御における評価技術」　財満鎭明（名大）

2. 「高性能・高分解能原子間力顕微鏡の先端技術」　森田清三（阪大）

3. 「SPMによる半導体表面分析の最近の展開」　
   藤田大介（物質・材料研究機構）

4. 「最先端デバイスの半導体／絶縁膜界面制御の最新動向」　
   小山正人（東芝）

5. 「磁場計測にもとづく微小回路電流の評価」　高橋琢二（東大）

6. 「化合物系デバイス新技術」　塩島謙次（福井大）

7. 「SPMの理論と汎用シミュレーション」　塚田捷（東北大）