過去の研究会 | 次世代ナノプローブ技術委員会

第１回「設立総会」

日時：平成10年1月27日
場所：弘済会館

アトムテクノロジープロジェクトの現況
丸山瑛一（アトムテクノロジー研究体プロジェクトリーダー）
電子・光デバイスとナノテクノロジー
末松安晴（高知工科大学学長）

第３回「走査型ブロープ顕微鏡の最近の研究動向—高分子／バイオ分野におけるナノプロープテクノロジー」

日時：平成10年5月22日
場所：学士会館

有機シラン単分子膜とSPM微細加工
杉村博之（名古屋大学大学院工学研究科）
原子間力顕微鏡によるDNA研究の目的と現状
岡田孝夫（工業技術院アトムテクノロジー研究体）
粘着剤のマクロとミクロ
久保園達也（日東電工(株) 信頼性評価センター）
材料強度研究とナノテクノロジー
岸本喜久雄（東京工業大学工学部）
高分子・生体材料のナノメートルスケールでの力学的性質
猪飼篤（東京工業大学生命理工学部）

第５回「ブロープの製作評価」

日時：平成10年10月2日
場所：弘済会館

SPMのブロープ研究の総括
森田清三（大阪大学大学院工学研究科）
ビルドアップ探針とその応用
富取正彦（北陸先端科学技術大学院大学材料科学研究科）
走査型アトムプロープによる探針評価
西川治（金沢工業大学物質応用工学科）
AFM用マイクロカンチレバーの製作
戸田明敏（オリンパス光学工業(株)）
AFM共振スペクトルによる接触状態と探針形状の評価
山中一司（東北大学）
「パネル討論」（パネラー：講演者）
話題提供　「化学修飾探針の展望」　猪飼　篤（京工業大学）
【会議報告】Micro-processes and Nanotechnology Conf　（MNC　7月13日〜16日、Kyoungju）
荻野俊郎（NTT 基礎研究所）

第７回「ナノテクノロジー」

日時：平成11年1月22日
場所：弘済会館

私達の生活とナノエレクトロニクス —CDプレーヤーや携帯電話にナノテクノロジーが生きている—
嶋田壽一（(株)日立製作所）
究極のナノテクノロジー —ナノ構造の機能と特性を測る新手法—
青野正和（大阪大学大学院工学研究科）
ナノテクノロジー：ブレークスルーへのチャレンジ
相澤益男（東京工業大学生命理工学部）
バイオ分子の形とその働き
横山茂之（東京大学大学院理学系研究科）
生体物質を調べるマイクロマシン　—マイクロ生化学分析システム—
庄子習一（早稲田大学理工学部）

第９回「高分子と生体膜表面のナノテクノロジー」

日時：平成11年5月21日
場所：弘済会館

ポリマーキャスト膜の自己組織的凝集構造
下村政嗣（北海道大学電子科学研究所）
フラクタル構造による超撥水/撥油
恩田智彦（花王(株) 加工・プロセス開発研究所）
走査フォース顕微鏡による高分子超薄膜の構造、物性、機能性評価
高原淳（九州大学有機化学基礎研究センター）
生体膜の動力学・膜透過の計算機シミュレーション
岡崎進（東京工業大学大学院総合理工学研究科）
組織工学をめざした生体適合性表面の設計
赤池敏宏（東京工業大学生命理工学部）

第２回「走査型プローブ顕微鏡の最近の研究動向—電子デバイス・プロセスの現場からの走査型プロープ顕微鏡に望むこと—」

日時：平成10年3月12日
場所：弘済会館

半導体分野における計測技術のニーズと動向
三井泰裕（(株)日立製作所半導体事業部）
シリコンナノデバイス評価から見たSPM技術への期待
森本廉、森田清之、大仲清司（松下電器産業(株) 中央研究所）、

丹羽正昭（松下電子工業㈱半導体事業本部プロセス開発センター）

半導体プロセスにおけるモニタ技術の課題
斎藤修一（日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所）
超純水洗浄Si表面構造の評価
臼田宏治（(株)東芝研究開発センター材料・デバイス研究所）
汎用的「分析業務」の観点からみたSPMの利用と期待
鈴木峰晴（NTTアドバンステクノロジ(株) 材料開発＆分析センター）
パネル討論会

第４回「半導体プロセス評価へのSPMの適用と問題—形状評価、標準化」

日時：平成10年7月31日
場所：NEC 三田ハウス芝倶楽部

作業部会報告
猪飼篤（東京工業大学）、森田清三（大阪大学）
序論　第2回研究会で提起された問題のまとめ
荻野俊郎（NTT 基礎研究所）
ナノデバイス・プロセスにおける原子間力顕微鏡を用いたナノ構造計測
永瀬雅夫（NTT 基礎研究所）
Siトレンチ側壁のAFM評価
八幡彰博、浦野聡、井上智樹、四戸孝（(株)東芝先端半導体デバイス研究所）
走査型キャパシタンス顕微鏡による微小領域の半導体不純物分布測定
峯尾江利子、久保真紀、中沢正敏、杉本有俊（(株)日立製作所デバイス開発センター）
AFMによる光ディスク表面形状の考察
加藤恵三（(株)日立製作所中央研究所）
SPM用校正試料とトレーサビリティー
関敏明（VLSIスタンダード(株)）
【会議報告】非接触の原子間力顕微鏡の国際ワークショップ（7月21日?23日、大阪大学）
森田清三（大阪大学）

第６回「キャパシタンス顕微鏡、ケルビンフォース顕微鏡、静電気力顕微鏡 —仕事関数、接触電位差、ドーピングプロファイルをキーワードとして—」

日時：平成10年11月27日
場所：弘済会館

走査型キャパシタンス顕微鏡による半導体ドーパント分布の評価
中桐伸行（(株)ニコン第一技術開発部）
走査型マクスウェル応力顕微鏡による表面電気現象の解析
横山浩（電子技術総合研究所）
非接触走査型力顕微鏡による表面電位計測及びドーパントプロファイル計測への応用
菊川　敦（(株)日立製作所中央研究所）
FM検出静電気力顕微鏡による半導体表面の電荷の原子レベル観察
菅原康弘（大阪大学大学院工学研究科）
SPMを用いた超高速波形計測
水原晃、竹内恒一郎（(株)テラテック）

第８回「近接場光学顕微鏡」

日時：平成11年3月12日
場所：弘済会館

散乱型近接場光学顕微鏡
河田聡（大阪大学大学院工学研究科）
微細加工カンチレバーを用いた近接場光学顕微鏡
山田啓文（京都大学大学院工学研究科）
近接場光学顕微鏡による半導体微細・量子溝造の分光評価
斎木敏治（神奈川科学技術アカデミー光極微機能プロジェクト）
光エレクトロニクスのパラダイム・シフトとしての近接場光技術
大津元一（東京工業大学大学院総合理工学研究科）
トンネル電子発光による個々のナノ構造の特性評価
村下達（NTT フォトニクス研究所）

第10回「SPMの実用技術への応用」

日時：平成11年7月7日
場所：弘済会館

SPMの評価に耐えられる試料作製方法
畠山進一（(株)三啓）
実際の分析解析業務におけるSPMの位置付けと解析例およびSPMへの期待
叶　際平（(株)日産アーク）
広視野かつ高速走査を実現させたSPMとそれによるCMP評価
村山健（日立建機(株)）
雰囲気制御型SPMについて
粉川良平（(株)島津製作所）
高性能光学顕微鏡とSPMの関わり—光学顕微鏡との一体化によるSPM解析のメリット—
F. Saurenbach（カールツァイス(株)（SIS社））

第11回「記録媒体・表示デバイスにおけるSPMの利用」

日時：平成11年9月17日
場所：松下電器産業(株) 技術館

ディスプレイデバイスの現状と展望
水野康男（松下電器産業(株)）
記録媒体・表示デバイスのSPM評価の現状
中村雅一（(株)東レリサーチセンター）
SPMによる超高密度記録の現状と展望
保坂純男（(株)日立製作所中央研究所）
有機EL素子の開発とそのSPMによる評価
藤平正道（東京工業大学　生命理工学部）

13th “Cutting Edge of Catalyst Engineering”

日時：平成12年1月25日
場所：主婦会館プラザエフ

最近の自動車排ガス触媒技術
杉浦正治（(株)豊田中央研究所）
分子状水素起源のプロトン酸点を活性点とする固体酸触媒
服部英（北海道大学エネルギー先端工学研究センター）
原子レベルで観る固体触媒の機能
中村潤児（筑波大学物質工学系）
木炭からの機能性カーボン材料の開発
今村祐嗣（京都大学木質科学研究所）
固体表面上での触媒反応：計算化学からのアプローチ
高見誠一、久保百司、宮本明（東北大学大学院工学研究科）

第15回「表面原子・分子ダイナミクス・・・計算物理」

日時：平成12年5月19日
場所：NEC 三田ハウス芝倶楽部

スーパーコンピュータの現状と将来
岩屋暁宏（日本電気(株)）
半導体表面のダイマー構造の時空揺らぎ
中村美道（東京大学大学院工学系研究科、科学技術振興事業団）
水素終端シリコン表面での反応プロセス
大野隆央（金属材料技術研究所）
原子レベルの拡散機構と薄膜モルフォロジー
押山淳（筑波大学物理学系）
STM誘起吸着子ダイナミクス
笠井秀明（大阪大学大学院工学研究科）

第17回「カーボンナノチューブ探針」

日時：平成12年9月14日
場所：主婦会館プラザエフ

カーボンナノチューブ探針モフォロジー
飯島澄男（名城大学理工学部）
カーボンナノチューブ探針の製作とSPM画像特性
中山喜萬（大阪府立大学大学院工学研究科）
熱CVD直接成長カーボンナノチューブAFM探針による観察、ナノスケール加工とSET、およびフィールドエミッタ
松本和彦（電子技術総合研究所）
カーボンナノチューブSPM探針：SEM中操作と化学修飾
徳本洋志、清水哲夫（JRCAT—産業技術融合領域研究所）、崔奈美（オングストロームテクノロジー研究機構）、内橋貴之（姫路工業大学）
カーボンナノチューブの先端構造と電界蒸発
畑浩一、齋藤弥八（三重大学工学部）

第19回「SPMによる表面電気特性の評価」

日時：平成13年1月16日
場所：大阪大学医学部銀杏会館

多探針STM等による古典的および量子化された電気伝導の測定
青野正和（大阪大学大学院工学研究科）
ナノプローブSPM
瀬古口麻紀、土屋晶義（松下技研(株)）、Cornelius Wuelker（Omicron Vakkumphysik GmbH）
4探針STMの開発とナノ領域伝導の測定
長谷川修司（東京大学大学院理学系研究科）
水素終端シリコン表面における原子構造と特性評価
橋詰富博、平家誠嗣、藤森正成、石橋雅義、諏訪雄二、市村雅彦、

小野木俊之（(株)日立製作所基礎研究所）、一杉太郎、松浦志のぶ、

渡邉聡（東京大学工学部）、Z. Q. Li、大野かおる、

川添良幸（東北大学金研）

量子コンタクトとその量子伝導
高柳邦夫（東京工業大学大学院総合理工学研究科）

第12回「半導体への応用（II）」

日時：平成11年11月12日
場所：弘済会館

走査型振動プロープによるトンネル電流と変位電流の同時分離計測
真島豊、岩本光正（東京工業大学電子物理工学科）
近接場光プローブを用いた高分解能OBIRCHおよびOBICによるTiSi配線の解析
二川清（日本電気(株) デバイス評価技術研究所）
STM/AFMナノ酸化プロセスによる単一電子デバイス
松本和彦（電子技術総合研究所電子デバイス部）
SCM分析の実際　—何に使え、何が問題か—
中村雅一（(株)東レリサーチセンター表面科学研究部）
ナノプローバによる電気特性の測定
荒牧浩二、渡辺修、梅村馨（(株)日立製作所中央研究所）、

三井泰裕（(株)日立製作所半導体グループ）、

長谷川剛（理化学研究所）

第14回「走査型プローブ顕微鏡のロードマップ2000」
（ナノプローブテクノロジー第167委員会　出版記念公開シンポジウム）

日時：平成12年3月3日
場所：主婦会館プラザエフ

公開シンポジウム開催にあたって
ナノプロープテクノロジー第167委員会　委員長　森田清三

第16回「SPMの半導体への応用」

日時：平成12年7月7日
場所：(株)日立製作所中央研究所

単一電子メモリの現状と将来
矢野和男（(株)日立製作所中央研究所）
水素終端Si表面初期酸化の大気中AFM/STM観察と分子軌道解析
奥山雅則、弓達新治、金島岳（大阪大学基礎工学部）
水素および窒素によるシリコン表面のパッシベイション
森田行則、徳本洋志（JRCAT—融合研）
金ナノコンタクトのネック形成、変形過程およぴコンダクタンスの振る舞いについての研究【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演（平成10年度）】
大西秀朗（大阪大学超高圧電顕センター）
SPMの理論【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演（平成11年度）】
塚田捷（東京大学大学院理学研究科）

第18回「極薄酸化膜のSPM評価」

日時：平成12年11月17日
場所：主婦会館プラザエフ

Si(100)表面の非接触AFM観察
菅原康弘、森田清三（大阪大学大学院工学研究科）
STMによるウェット洗浄Si(001)水素終端化表面の原子構造観察
遠藤勝義（大阪大学大学院工学研究科）
Si初期酸化のリアルタイム観察
三木一司（電子技術総合研究所）
Si表面の初期酸化過程の理論予測
加藤弘一（(株)東芝研究開発センター）、宇田　毅（アトムテクノロジー研究体）
Si表面のlayer-by-layer酸化と局所絶縁劣化のナノプロープによる評価
渡部平司（日本電気(株) シリコンシステム研究所）
SiO2/Si(001)界面構造の大規模モデリングと初期酸化過程のシミュレーション
渡邉孝信、辰村光介（早稲田大学理工学部）、

大泊　巌（早稲田大学各務記念材料技術研究所）

高電界ストレス印加によるシリコン酸化膜の劣化とウェットエッチング中の表面凹凸変化
山部紀久夫（筑波大学物理工学系）

第20回「微細技術の最近の話題」

日時：平成13年3月7日
場所：主婦会館プラザエフ

マイクロマシニングとナノマシニング
江刺正喜、小野崇人（東北大学）
マイクロマシン技術によるDNA分子制御
鷲津正夫（京都大学大学院機械工学専攻）

【未来開拓学術研究推進事業中間発表会】

極限精度ナノマニピュレータの研究開発中間報告
プロジェクトリーダー　猪飼　篤（東京工業大学）
力学測定用原子間力顕微鏡の高精度化
粉川良平（(株)島津製作所）
高精度ナノマニピュレータの製作と動作特性
八木明（オリンパス光学(株)）
総合討論

第21回「ナノテクノロジープロジェクト」

日時：平成13年5月23日
場所：主婦会館プラザエフ

経済産業省関連ナノテクノロジープロジェクト概要
一村信吾（産業技術総合研究所）
ナノ機能合成プロジェクト
横山　浩（産業技術総合研究所）
ナノ高分子プロジェクト
中濱精一（産業技術総合研究所）
文部科学省関連プロジェクト
小口伸行（物質・材料研究機構）
理研プロジェクト
青野正和（理化学研究所）
理研プロジェクトの紹介　②理研フロンテア研究システム
丸山瑛一（理研フロンテア）

第23回「第4回非接触原子間力顕微鏡国際会議（共催）」

日時：平成13年9月1日(土) - 5日
場所：京都テルサ

第25回「化合物半導体デバイスの現状と展望」

日時：平成14年1月31日
場所：豊田工業大学

窒化物半導体ナノ構造の現状と展望
荒川恭彦（東京大学先端科学技術研究センター）
ワイドギャップ半導体の現状と将来展望
吉田博（大阪大学産業科学研究所）
III-V族ならびにII-VI族化合物半導体の現状と将来展望
末宗幾夫（北海道大学電子科学研究所）
太陽光発電の現状と将来展望　—高効率化合物半導体多接合構造太陽電池の研究—
山口真史（豊田工業大学）

第27回「ナノスケール物性分析」

日時：平成14年5月29日
場所：NEC三田ハウス芝倶楽部（東京）

STMアクティブナノ計測
藤田大介（物質・材料研究機構）
走査型トンネル顕微鏡による短チャンネルMOSFETの評価
長谷川繁彦（大阪大学産研）
静電容量プローブ顕微鏡によるＸ線吸収分光
石井真史（Spring-8高輝度光科学研究センター）
ナノフォトニクス用材料 —デバイスの作製とその評価—
大津元一（東京工業大学）
低エネルギー電子顕微鏡と光電子顕微鏡による動的観察と構造解析
越川孝範（大阪電気通信大）

第29回（設置継続記念研究会）「ナノプローブテクノロジーの発展を期して」

日時：平成15年1月14日
場所：NEC三田ハウス芝倶楽部

委員総会
挨拶　—第１期5年間の活動を振り返って—
委員長　森田清三
ナノプローブ技術の急展開—非接触原子間力顕微鏡の動向【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
森田清三（大阪大学大学院工学研究科）
極限精度バイオナノマニピュレータ研究開発（未来開拓推進事業報告）【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演（Mohammed Taufiq Alam）を兼ねる】
猪飼篤（東京工業大学大学院　生命理工学研究科）
走査プローブ顕微鏡による吸着分子の化学識別【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演（笹原亮）を兼ねる】
大西洋（神奈川科学技術アカデミー）

第22回「近未来電子デバイス—SiおよびC系—」

日時：平成13年7月13日
場所：主婦会館プラザエフ

シリコン単電子トランジスタ
高橋庸夫（NTT 物性科学基礎研究所）
ナノ構造の観測・分析技術に関するアンケート調査結果の紹介
黒沢　賢（NTTアドバンストテクノロジ(株)）
SOIとSiGeデバイス　—超高速Siデバイス—
土屋敏章（島根大学総合理工学部）
ダイヤモンドの基礎物性とデバイスへの応用
大串秀世（産業技術総合研究所新炭素系材料開発研究センター）
有機電子デバイスの現状
工藤一浩（千葉大学電子機械工学科）

第24回「LSI個別プロセス技術の将来と計測への要望」

日時：平成13年11月8日
場所：主婦会館プラザエフ

次世代LSIプロセス技術と極限計測への挑戦
広瀬全孝（産業技術総合研究所次世代半導体研究センター）
極薄ゲート絶縁膜ロードマップと課題
丹羽正昭（松下電器(株) 半導体社プロセス開発センター）
リソグラフィ技術のロードマップと課題
寺澤恒男（半導体MIRAIプロジェクトリソグラフイ・マスク計測技術グループ）
バックエンドプロセスにおける配線技術の現状と展望
金子尚史（(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター）

第26回「分子エレクトロニクス」

日時：平成14年3月5日
場所：主婦会館プラザエフ

有機トランジスター：薄膜デバイスから単一分子デバイスへ
多田博一（岡崎国立共同研究機構分子科学研究所）
Dual-probe STMとカーボンナノチューブトランジスタ
真鍋力、渡辺浩之　清水正昭（富士ゼロックス(株) 中央研究所）
走査プロープを用いたDNA及び鎖状有機分子の電子物性計測
松本卓也、川合知二（大阪大学産業科学研究所）
分子電子素子のための分子設計と物性評価
小川琢治（愛媛大学理学部）
分子システムから分子デバイスへ
中村貴義（北海道大学電子科学研究所）

第28回「微小部・微量物質の熱物性とその評価法」

日時：平成14年8月29日
場所：主婦会館プラザエフ

機能性材料のナノスケールにおける熱特性
八田一郎（福井工業大学）
先端産業用材料開発におけるナノスケール熱物性評価の重要性
山根常幸（(株)東レリサーチセンター）
マイクロメカニカルカロリメトリーによるピコグラム試料の相転移熱測定
中川善嗣（(株)東レリサーチセンター）
走査型熱顕微鏡による微小スケール熱計測
中別府修（東京工業大学）
半導体実装分野における熱特性評価
大曽根靖夫（(株)日立製作所）

第30回「ナノ〜単一分子スケール分光」

日時：平成15年4月22日
場所：かながわサイエンスパーク　

神奈川科学技術アカデミー実験室ツアー
単一分子の振動分光と化学反応
川合真紀（理化学研究所）
赤外・可視・紫外光を用いた近接場分光分析
成田貴人（日本分光(株)）
ナノチューブの共鳴ラマン分光の進展
齋藤理一郎（東北大学）
局所増強ナノチップによる分子振動イメージング
井上康志（大阪大学）
生体細胞のin vivo時空間ラマン分光
浜口宏夫（東京大学）

第31回「ナノ／バイオデバイス・ナノマシン」

日時：平成15年7月1日、2日
場所：島津製作所　東京支社

７月１日

次世代ナノバイオデバイス
馬場嘉信（徳島大薬・科技団CREST・産総研）
カーボンナノチューブトランジスタ
二瓶史行（日本電気(株) 基礎研究所）
マイクロ加工
川勝英樹（東京大学生産技術研究所）
親指サイズ電子顕微鏡の研究・開発
三好元介（東京大学先端科学技術研究センター）

７月２日

化学・生化学応用を目的としたナノ／マイクロ流体デバイス・システム
庄子習一（早稲田大学理工学部）
バイオナノプロセス：バイオ技術を利用したナノ構造の作製
山下一郎（松下電器産業(株) 先端技術研究所）
次世代ナノ構造電子デバイスの展望
榊裕之（東京大学生産技術研究所）

第33回「ソフトマテリアル」「走査型プローブ顕微鏡関連市販製品の最新技術(2)」

日時：平成16年1月29日、30日
場所：東京工業大学　大学会館

1月29日

高速原子間力顕微鏡（生体分子のナノダイナミクス撮影装置）の最近の展開
安藤敏夫（金沢大学）
モーター蛋白質をナノアクチュエータとして使う
上田太郎（産業技術総合研究所）
Extraction of Membrane Proteins from a　Living Cell Surface Using the Atomic Force Microscope and Covalent Crosslinkers【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】
Rehana Afrin（東京工業大学）
Advanced AFM Imaging Techniques for Life Sciences
Xiu Qiang Tong（Molecular Imaging, USA）
次世代に向けた高精度原子間力顕微鏡〜観察から加工まで
小森研治（(株)生体分子計測研究所）
A new generation AFM with improved scan accuracy, scan speed, and optical vision
Sang-il Park（PSIA Corporation, Korea）

1月30日

接場光学顕微鏡による界面液晶配向の電場応答観察
田所利康（(株)オプトクエスト）
Single molecule force microscopy of adhesion protein nanostructures at surfaces
Gilbert Walter（University of Pittsburgh）
ＳＰＩシリーズの最新技術の紹介　—有機、バイオ、電気応用を中心として—
繁野雅次（エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)）
高分子ナノ計測
西敏夫（東京工業大学）

第35回「ナノプローブ技術の新展開と標準化」

日時：平成16年7月21日、22日
場所：東京工業大学　大岡山キャンパス　百年記念館

7月21日

非線形誘電率顕微鏡の開発とナノドメインエンジニアリング【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
長康雄（東北大学・電気通信研究所）
TC201/TC202に係わる国際標準化活動と、SPMに関する国際標準化の動向
一村信吾（産業技術総合研究所　計測フロンティア研究部門）
15:40〜16:20　ミリからナノまでのワイドレンジ観察・測定ができる新型顕微鏡
粉川良平（島津製作所）
Characterization of Various Semiconductor Devices utilizing SPM
Ilsub Chung（イルサブ・チョン）（韓国Sungkyunkwan大学）

7月22日

ダイナミックモード原子間力顕微鏡によるナノスケール電気計測の開拓【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
山田啓文、小林圭（京都大学大学院工学研究科）
非接触原子間力顕微鏡を用いた力学的単原子操作【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】　
大藪範昭（大阪大学大学院工学研究科）
カーボンナノチューブ—無機材料ハイブリッドナノ構造の構築とその応用
片山光浩（大阪大学大学院工学研究科）

第37回「ナノプローブ技術の新展開と標準化」

日時：平成17年1月26日、27日
場所：かずさアカデミアホール

1月26日

ゲノム研究からのナノプローブテクノロジーへの期待
小原收（かずさDNA研究所ヒト遺伝子研究部）
微細加工技術を利用した細胞利用計測技術の新展開
安田賢二（東京大学大学院総合文化研究科）
大気中、真空中、溶液中における染色体及びDNAのSPM観察 —Ｑ値制御などの観察手法の検討—
繁野雅次（エスアイアイ・ナノテクノロジー(株) 技術二グループ）
かずさＤＮＡ研究所見学

1月27日

（講演題目未定）
山田啓文（京都大学工学研究科）
シリコン基板上への膜タンパク/脂質二重膜集積構造の形成とバイオセンサー応用
宇理須恒雄（分子科学研究所反応動力学部門）
半導体表面を用いた生体機能解析
庭野道夫（東北大学電気通信研究所ナノ・スピン実験施設）

第39回「nc-AFMの新展開，半導体・デバイス評価，標準化」

日時：平成17年7月27日、28日
場所：東京工業大学すずかけ台キャンパス　すずかけホール

7月27日

非接触原子間力顕微鏡(nc-AFM)の最新動向
森田清三（大阪大学）
１気圧チッソ雰囲気中での原子分解能観察
笹原亮（神戸大学）
カンチレバーの変位検出過程における雑音低減 —実用環境における原子・分子分解能AFM観察—
山田啓文（京都大学）
電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法の開発【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
新井豊子（北陸先端科学技術大学院大学）
AFMによるGe/Si（105）表面の原子像およびポテンシャル測定
長谷川幸雄（東大物性研）
AFMを用いた半導体原子の識別と操作【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】
杉本宜昭（大阪大学）
STM発光分光による表面振動分光法の開発
上原洋一（東北大学）

第32回「走査型プローブ顕微鏡関連市販製品の最新技術（１）」

日時：平成15年10月24日
場所：弘済会館　

カーボンナノチューブプローブが走査型プローブ顕微鏡を変える【ナノプローブテクノロジー賞受賞講演】
中山喜萬（大阪府立大）
ナノプローブテクノロジーによる高分子材料表面のキャラクタリゼーション【ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演】
田中敬二（九州大）
ＦＭ検出法による高分解能観察
鈴木克之（日本電子(株)）
Recent development of SPM technologies and products by Veeco Instrument
Bob Tench（Veeco Instruments, Inc.）
最新のＳＰＭ装置のご紹介
長村俊彦（(株)ユニソク）
Nanotechnology News and Applications Gemini, High-Resolution UHV-SEM Integration into Multi-Technique Systems
Jorg Schuler（Omicron NanoTechnology）
ＳＰＭを応用したナノテクノロジー支援ツールの紹介
山下泰久（(株)東陽テクニカ）

第34回「ビーム技術最前線

日時：平成16年4月20日
場所：日本ビーコ(株)本社　

収束イオンビームによる三次元ナノテクノロジーの展開
松井真二（姫路工大）
放射光によるナノ加工技術の現状
杉山進（立命館大学）
新しい電子ビーム源とその応用
三村秀典（静岡大学）
超高分解能透過電子顕微鏡技術の最前線
田中信夫（名古屋大）

第36回「Si半導体関連（半導体表面、デバイス）」

日時：平成16年10月22日
場所：京都大学　桂キャンパス　桂インテックセンター

レーザービームによる半導体表面原子結合の操作
金崎順一（大阪市立大学）、谷村克己（大阪大学）
シリコン表面における電子定在波
平山博之（東京工業大学）
ＳＴＭによる原子分解能ドーパント分布計測技術の開発
西澤正泰、金山敏彦（MIRAI?AIST）
ＮＣ—ＡＦＭを用いたゲート絶縁膜のリーク機構の検討
酒井朗、財満鎭明、安田幸夫（名古屋大学）
非線形誘電率顕微鏡によるMONOS型Flashメモリ中の蓄積電荷の視覚化
本田耕一郎（(株)富士通研究所），長康雄（東北大電気通信研）
Veeco社製SPMの新製品とその技術について
寺田昇（日本ビーコ(株)）

第38回「ナノプローブ関連先端計測」

日時：平成17年4月19日
場所：京都大学　桂キャンパス　桂インテックセンター

汎用走査プローブ顕微鏡シミュレータの開発
塚田　捷（早稲田大）
フェムト秒時間分解走査プローブ顕微鏡技術の開拓と極限計測
重川秀実（筑波大）
低次元ナノマテリアルと単一分子の振動分光・ESR検出装置開発
米田忠弘（東北大）
先端的ナノトライボロジー計測による情報記憶装置の革新
福澤健二（名大）
生体分子のオンチップ分離・回収と１分子機能解析
船津高志（東大）

第40回「ナノプローブ関連先端計測」

日時：平成17年10月19日
場所：大阪大学コンベンションセンター

An Odyssey of Imaging Atoms: from Field Emission Microscope to Atom Probe
西川治（金沢工業大学）
ティップサイエンスナノとマクロをつなぐ橋　—理論系から—
佐々木成朗（成蹊大学）
ティップサイエンス —実験系から—
富取正彦（北陸先端科学技術大学院大学）
ナノ電気伝導計測用導電性プローブ
長谷川修司（東京大学）
磁気力顕微鏡用カーボンナノチューブプローブ
倉持宏美（産総研）
カンチレバー共振型超高感度質量センサー
曾根逸人（群馬大学）

第41回「nc-AFMの新展開，半導体・デバイス評価，標準化」

日時：平成18年1月11日、12日
場所：東京工業大学大岡山キャンパス　百年記念館　

1月11日

固液界面における化学反応のナノスケール観察と制御
犬飼潤治（東北大学大学院工学研究科）
ナノスペース中の水
金子克美（千葉大学理学部化学科）
コロイドプローブAFM法による表面構造設計した微粒子間相互作用の評価
神谷秀博（東京農工大学大学院・共生科学技術研究部）
張力増加速度一定モードフォーススペクトロスコピーの開発と一分子計測への応用
武内修（筑波大学数理物質科学研究科）
（新製品紹介１）ナノプローブテクノロジー製品の最新情報
山下泰久（(株)東陽テクニカ）

1月12日

単一分子の電子伝導
藤平正道（東京工業大学大学院生命理工学研究科）
導電性分子ネックレスの伝導測定
下村武史（東京農工大学共生科学技術研究部）
近接場光学顕微鏡の開発と高分子の構造解析への応用
青木裕之（京都大学大学院工学研究科）
（新製品紹介２）温度制御型プローブ顕微鏡によるエポキシ樹脂表面のキャラクタリゼーション
岩佐真行（エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)）

第43回【第9回非接触原子間力顕微鏡国際会議】

日時：平成18年7月16日〜20日
場所：兵庫県神戸市神戸国際会議場　国際会議室
発表：口頭講演48件、ポスター発表80件、合計128件（17カ国）、参加者：227人（17カ国）

第45回「NEDOナノ計測ロードマップ・半導体ロードマップとSPM国際標準化の展望」

日時：平成19年1月25日、26日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

1月25日

ナノ計測の展望と課題
安宅龍明（オリンパス株式会社・未来創造研究所）
ナノ構造計測のロードマップ
小島勇夫（産業技術総合研究所・計測標準部門）
ナノ物性計測のロードマップ
馬場哲也（産業技術総合研究所・計測標準部門）
ナノテクノロジーの国際標準化の動向について
一村信吾（産業技術総合研究所・計測フロンティア研究部門長）

1月26日

ISO/TC201（Surface Chemical Analysis）におけるSPM標準化の概要
安武　正敏（エスアイアイ・ナノテクノロジー（株）基盤技術開発部）
Si-LSIのロードマップ
岩井　洋（東京工業大学・フロンティア創造共同研究センター）
有機半導体未来予測
八瀬　清志（産業技術総合研究所・光技術研究部門）

第47回「有機デバイス・バイオセンシングの現状とプローブ顕微鏡との接点」

日時：2007年7月20日
場所：産業技術総合研究所臨海副都心センター

単一分子観察技術による生物素構造のダイナミクス
小嶋寛明（情報通信研究機構・未来ICT研究センター）
電気を流すプラスチックの１分子細線を作る
坂口浩司（静岡大学電子工学研究所・ナノデバイス材料部門）
CNTデバイスの現状と実用化に向けての課題
畠賢治（産総研・ナノカーボン研究センター）
有機トランジスタの課題とナノプローブ計測
中村雅一（千葉大学大学院工学研究科・人工システム科学専攻）
分子デバイスの創製に向けたナノプローブ計測
真島豊（東京工業大学大学院理工学研究科・電子物理工学専攻）

第49回「生物現象のナノ力学とプローブ顕微鏡の標準化」

日時：平成20年1月24日、25日
場所：東京工業大学すずかけホール

生物現象のナノ力学（イントロダクトリー）
猪飼　篤（東京工業大学）
インテグリンを介した細胞接着のメカニズム
高木淳一（大阪大学）
生体情報伝達連鎖機構の単分子力学解析と計算機モデリング
猪飼　篤（東京工業大学）
ナノスケール領域の材料力学
岸本喜久雄（東京工業大学）
タンパク質分子力学の実験と分子動力学シミュレーション
関口博史（東京工業大学）、田上勝規（早稲田大学）
ISO/TC201におけるSPM国際標準化活動の展開
藤田大介（物質・材料研究機構　ナノ計測センター）
７．SPMターミノロジーの標準化の展開
安武正敏（エスアイアイ・ナノテクノロジー（株））
SPMの校正と標準試料（ISO TC201/SC9における標準化の現状）
井藤浩志（産業技術総合研究所　計測フロンティア研究部門）
SPMの使用法の標準化の展開（含むアンケート）
三隅伊知子（産業技術総合研究所　計測標準研究部門）
NSOM/SNOMの標準化の動向と日本の対応
中嶋　健（東京工業大学大学院　理工学研究科）
AFM探針に関する標準化の動向ISO TC201/SC9/SG5
戸田明敏（オリンパス（株））

第42回「企業サイドからのSPM関連装置のニーズとシーズ」

日時：平成18年4月25日
場所：（株）東陽テクニカ　テクノロジーインターフェースセンター

強誘電体を記録媒体とした超高密度プローブストレージの研究
尾上篤（パイオニア(株) 総合研究所）
最新の３次元アトムプローブの紹介と分析事例
渡邉勝巳（アルバック・ファイ(株)　ナノテクノロジー事業部）
独ＳＰＥＣＳ社の高速スキャンＳＴＭ及びＬＴ—ＳＴＭ
和田桂一（アステック(株) 科学計測事業部）
ＳＰＭの測定環境
荒沢裕之（ヘルツ(株)　営業Ｇ）
ＳＰＭに求める基本性能と機能拡張
日下貴生（キャノン(株) 先端融合研究所）
最新のプローブ顕微鏡
長村俊彦（(株)ユニソク）
ナノインデンテーション法及びナノスクラッチ法による層間絶縁膜のナノ機械物性の評価
児嶋伸夫（(株)日産アーク研究部物性解析研究室）

第44回「光・プローブ技術を駆使した細胞操作とイメージング」

日時：平成18年10月26日
場所：慶應義塾大学日吉キャンパス来往舎

１分子追跡による細胞膜上でのシグナル変換の研究
楠見明弘（京都大学再生医科学研究所）
生細胞の力学的イメージングとその運動の制御
川端和重（北海道大学大学院生命理学専攻）
先鋭化されたAFMプローブ「ナノ針」による低侵襲な細胞操作技術
中村史（産業技術総合研究所セルエンジニアリング研究部門）
ナノプローブ法による単一生細胞の解析
長田俊哉（東京工業大学大学院生命理工研究科）
走査型電気化学・近接場光学・原子間力顕微鏡の開発とバイオ応用
丸山健一（アナシステクニカ）

第46回「SPMの装置と応用」

日時：平成19年4月20日

場所：（株）東陽テクニカ　テクノロジーインターフェースセンター

SPMを用いた正しい物理量計測を目指して
中嶋　健（東京工業大学　大学院理工学研究科）
自己検知型プローブを利用するAFMの開発とバイオサンプルの観察
本間　克則（㈱生体分子計測研究所）
今後のプローブ開発について」
長谷川友保（オリンパス㈱ MEMS開発本部）
近接場ラマン分光法を用いたSiの応力分布評価
村上　昌孝（㈱東レリサーチセンター構造化学研究部）
磁気共鳴力顕微鏡（MRFM）による局所領域のMRI測定
吉成洋祐（日本電子㈱開発本部）
空間分解能100nmをこえる局所ナノ熱解析
山下泰久（㈱東陽テクニカ分析システム部）

第48回「半導体分析技術を支えるSPM技術の現状と未来」

日時：平成19年11月19日、20日
場所：ウェルシティ金沢

原子・分子の識別・操作の最新動向と未来
森田　清三（大阪大学　工学研究科）
液中原子・分子の識別・操作の最新動向と未来
山田　啓文（京都大学　工学研究科）
SSRMを用いたCMOSFET極浅接合における電化キャリア分布の2次元高精度計測
張　利（(株)東芝　研究開発センター）
SNDMによる半導体デバイス評価
本田　耕一郎（(株)富士通研究所　基盤技術研究所）
ＳＣＭ・ＳＳＲＭの限界と課題
藤田　高弥（(株)東レリサーチセンター）
静電気力測定による半導体評価の現状と課題
小林圭（京都大学　産官学連携センター）
原子・分子の識別・操作の今後の課題
杉本　宜昭（大阪大学　工学研究科）
１原子元素分析の可能性
塚田　捷（早稲田大学　先進理工学研究科）
SEM式ナノプロービングシステムの開発
三井　泰裕（(株)日立ハイテクノロジーズ）
単電子デバイスとその場計測の重要性
高橋庸夫（北海道大学　情報科学研究科）
広がるマルチプローブ技術の最新動向と未来
中山知信（物質材料研究機構　ナノシステム機能センター）
有機トランジスタのSPM評価
橋詰富博（(株)日立製作所　基礎研究所）

第50回「先端電子顕微鏡の最新技術と応用」

日時：平成20年4月24日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

収差補正透過電子顕微鏡による0.5オングストローム分解能の実現
高柳邦夫（東京工業大学）
走査透過電子顕微鏡（STEM）と電子エネルギー損失分光法（EELS）による原子コラムの可視化
木本浩司（（独）物質・材料研究機構）
透過電子顕微鏡による単分子イメージング
末永和知（（独）産総研ナノカーボンセンター）
高分解能TEMとAFM／STMの複合装置開発によるナノ力学・物性計測
木塚徳志（筑波大学）
ＳＰＭに求める基本性能と機能拡張
日下貴生（キャノン(株) 先端融合研究所）
SEMによる超低加速高分解能観察
新澤雄彦（日本電子（株））

第51回「光子制御技術の最先端　〜単一光子発生・単一量子系観測・メタマテリアル」

日時：2008年7月17日、18日
場所：慶應義塾大学日吉キャンパス来往舎

7月17日

「単一光子顕微鏡」小宮山進（東大）
「化学機能探針による物質同定」福井賢一（阪大）
「単一光合成アンテナ複合体の分光」松下道雄（東工大）
「フォトニック結晶」　岩本敏（東京大）
「単一光子・相関光子発生技術」枝松圭一（東北大）

7月18日

「近接場光学顕微鏡による単一量子系イメージング分光」斎木敏治（慶応大）
「メタマテリアル概論」石原照也（東北大）
「原子間力顕微鏡における高精度な探針位置制御技術の開発とその応用」阿部真之（阪大）（ナノプローブ賞受賞講演）
新製品紹介（Veeco Instruments）
新製品紹介（Agilent Technologies）

第53回「最新CMOS半導体評価技術とBeyond-CMOSの有力素子:グラフェン」

日時：2009年1月8日、9日
場所：キャンパスプラザ京都

1月8日：新半導体素子：グラフェン特集

グラフェン：総論（物性，作成法一般について）（北海道大学　徳本洋志）
Emerging research deviceとしてのグラフェンの展望とグラフェン・オン・Si技術（東北大学　末光眞希）
グラフェンのスピンデバイス（筑波大学　神田晶申）
SiC上のグラフェンの現状とプローブ技術の展望（NTT 永瀬雅夫）
単層グラフェン薄膜の形成と透明電極応用（埼玉大学　上野啓司）
グラフェンの低温物性（東京大学　福山寛）
グラフェンの新しい成膜技術（早稲田大　大島忠平）

1月9日：次世代半導体用最新評価技術

次世代MOSFETを支える高精度ホログラフィの最前線（NEC　五十嵐信行)
TEM-CTによる半導体内部立体構造観察（阪大　鷹岡昭夫）
測長AFMによるデバイス立体形状測定（産総研　権太　聡）
近接場ラマン分光を用いた局所歪み計測（理研　早澤紀彦）
KFMによる半導体不純物分析の最前線（静岡大　田部道晴）
ナノワイヤの伝導機構評価とデバイス応用への課題（NIMS、久保理）

第55回「SPMと関連技術の未来予想　-SPMロードマップ2010-2011へ向けて-」

日時：2009年7月23日、24日
場所：桐生地域地場産業振興センター　

７月２３日

「過去のSPMロードマップの点検と新ロードマップに向けて」　森田清三
「SPMの現状概観とロードマップ点検」富取正彦、菅原康弘
「SPMの応用技術とロードマップ点検」保坂純男、山田啓文、藤田（高）、西川治
「SPMの新技術動向とロードマップ点検」米田忠弘、山田啓文、吉村雅満
パネル討論「SPMへの期待・可能性を語る」

７月２４日

SPM標準化委員会
「SPMの応用とロードマップ点検」臼田宏治、末岡和久、大西洋、田中秀吉
「SPMの理論とロードマップ点検」塚田捷
パネル討論「SPMロードマップ2010-2011へ向けて（“SPMの夢は実現するか？”新たな夢への道程）」
富取正彦、臼田宏治、住友弘二、久保理、その他全員

第57回 1.「表面の物性（粘弾性など）測定のためのAFMの新しい測定法（ねじれ振動を用いたAFMと多周波数AFMを中心として）」
2. 「原子レベルのスピン検出」

日時：平成22年1月7日、8日
場所：大阪大学（吹田キャンパス）銀杏会館

１月７日

「超音波共振顕微鏡を用いた固体の粘弾性測定」荻博次　（阪大）
「広帯域励振による粘弾性計測」影島　賢巳（阪大）
「生体分子の粘弾性計測」川上　勝（北陸先端大）
「ソフトマター表面の粘弾性測定」中嶋　健（東北大）
「ねじれ振動AFMによる摩擦力測定」川勝　英樹　（東大）

１月８日

「スピン偏極トンネル顕微鏡」川越毅　（阪教育大）
「ESR-STM」米田　忠弘　（東北大）
「単一分子スピンの検出」高木　紀明　（東大）
「非弾性トンネル分光によるスピン検出」菅滋正、宮町俊生　（阪大）
「磁気交換力顕微鏡によるスピン検出」末岡　和久（北大）

第59回研究会
"Imaging of Interfaces in Liquids and Applications to Biomimetic Materials"
"Fundamental Standardization for AFM"
"Standardization of Various Nano-probe Technology"

日時　2010年8月4日，5日
場所：石川県立音楽堂　邦楽ホール

８月４日

"Imaging of Interfaces in Liquids and Applications to Biomimetic Materials"

"Zero phase mode atomic force microscopy", L. Pham Van (CEA/DSM/IRAMIS/SPCSI, France)
"New techniques for AFM based force measurement", Sean O'Shea (Institute of Materials Research and Engineering, Singapore)
"Combined atomic force-scanning electrochemical microscopy: nanoelectrochemistry at the AFM-Tip", Christine Kranz (University of Ulm, Germany)
"Atomic resolution observation of soluble crystals in liquid by frequency-modulation AFM", Ken Nagashima (Osaka University)
"Organization and AFM observation of photosynthetic membrane proteins assembled into planar lipid bilayer", Takehisa Dewa (Nagoya Institute of Technology)
"Subnanometer-resolution FM-AFM imaging of biological systems in liquid", Takeshi Fukuma (Kanazawa University)

ナノプローブ賞受賞講演
"Watching protein dynamics in action with high-speed AFM", Takayuki Uchihashi (Kanazawa University)
"Dynamic structural changes in single receptor protein observed with fast-scanning atomic force microscopy", Youichi Shinozaki (NTT Basic Research Laboratories)
"Small amplitude mono- and bi-modal dynamic force microscopy/spectroscopy for vertical and lateral force detections", Shigeki Kawai (University of Basel, Switzerland)

８月５日

"Fundamental standardization for AFM"

"Nanoscale dimensional metrology and standardisation", Gaoliang Dai (PTB, Germany)
"Calibration of dynamic sensors for noncontact-atomic force microscopy", Gordon A. Shaw (NIST, USA)
"Drift measurement of SPM", Wenhao Huang (Univ.of Science and Technology of China)
"Improved methods, interlaboratory comparison and standardization of AFM cantilever spring constant calibration", Charles Clifford (NPL , UK)
"Probe artifacts and image reconstruction", D. Fujita (NIMS, Japan)

"Standardization of various nano-probe technology"

"Characterization of soft materials", Jun Hu (Shanhai Institute of Applied Physics, China)
"Standardization of nanoscale optical microscopy", Jeongyong Kim (University of Incheon, Korea)
"Standardization of throughput in Near-field scanning optical microscopy", Tadashi Mitsui (NIMS,)

第52回「化学・材料産業界のSPMニーズ」

日時：2008年11月26日
場所：島津製作所東京支社

磁気デバイス評価におけるSPMへの期待（東芝）才田大輔
基板上クラスターと触媒表面化学（豊田中央研究所）渡邊佳英
極微小領域解析技術としてのSPMへの期待（三井化学）松岡修
色素増感太陽電池の開発とプローブ顕微鏡観察（シャープ）小出直城
単一分子レベルでの受容体タンパク質の機能観察（NTT）住友弘二
エネルギー変換技術とナノテク・バイオとの接点（AIST）本間格
静電気力顕微鏡による表面電位測定（トレックジャパン）東尾順平

第54回「自動車産業の研究開発におけるナノプローブ技術のニーズ」

日時：2009年4月17日
場所：産総研臨海副都心センター

「EV普及に向けて急発展する高性能パワーデバイス－分析技術SiCデバイス開発とその接点−」　谷本　智（日産自動車）
「SSRMによる埋め込みトレンチ型SiC-JFET微小領域の不純物濃度評価」杉山　尚宏（デンソー）
「固体高分子燃料電池の過去・現在・未来」堀　美知郎（大同大）
「固体高分子形燃料電池用電解質膜の構造・物性解析　〜SPMへ期待すること〜」太平　昭博（産総研）
「燃料電池に用いられるナフィオン膜のSPM評価」梅村　和夫（東理大）
「『材料の気持ち』を測るビジネス　−『ナノ物性』はナノスケール物性ではない−」叶　際平（日産アーク）
「ディーゼルエンジンから排出されるナノPM粒子のAFMによるキャラクタリゼーション」光岡　拓哉（豊田中研）

第56回「ナノ・バイオテクノロジーの現状と展望 −ナノプローブ技術に期待されるもの−」

日時：2009年11月10日
場所：(独)情報通信研究機構本部　

「高速原子間力顕微鏡による生体分子のダイナミクス観察〜現状と将来展望〜」　内橋　貴之　（金大）
「医療機器の安全性評価に必要なナノイメージングとは？　〜現状と将来〜」中岡　竜介　（国立医薬品食品衛生研究所）
「頭髪化粧料の開発におけるＡＦＭの有用性について」　
北野　宏樹　（ホーユー株式会）
「生体親和性の高い架橋剤による医療用材料の創製」　　
田口　哲志　（物材機構）
「生体親和性ポリマーナノ粒子細胞イメージングプローブ」　
石原　一彦　（東大）
情報通信研究機構内見学：日本標準時をつくる原子時計、その周辺技術の見学

第58回「走査プローブ顕微鏡における探針関連技術の現状と展望」

日時：2010年4月13日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

「水晶振動子を用いた小振幅AFMによる高分解能観察」江口豊明, 安東秀, 長谷川幸雄（東大）
「AFMを用いた細胞解析技術−ナノスケール針によるセルサージェリー」中村史（産総研）
「カーボンナノチューブ探針」吉村雅満（豊田工大）
「単結晶ダイヤモンドプローブ開発とその評価」　小山浩司、会田秀雄、砂川和彦（並木精密宝石）
「探針評価技術の現状と展望」井藤浩志（産総研）
「ナノ計測のためのマイクロプローブ」小野崇人（東北大）

第60回「半導体評価技術におけるSPMの新展開を探る」（第154委員会と合同）

日時：2010年11月25日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

「半導体界面制御における評価技術」　財満鎭明（名大）
「高性能・高分解能原子間力顕微鏡の先端技術」　森田清三（阪大）
「SPMによる半導体表面分析の最近の展開」　
藤田大介（物質・材料研究機構）
「最先端デバイスの半導体／絶縁膜界面制御の最新動向」　
小山正人（東芝）
「磁場計測にもとづく微小回路電流の評価」　高橋琢二（東大）
「化合物系デバイス新技術」　塩島謙次（福井大）
「SPMの理論と汎用シミュレーション」　塚田捷（東北大）

第61回「収差補正が電子顕微鏡にもたらす夢」

日時：2011年1月11日
場所：東京大学生産技術研究所（駒場）

「収差補正TEM技術による界面研究の最前線」　幾原雄一（東大）
「高分解能化TEM-EELSによる極微小領域の結晶構造解析」　
木本浩司（物質・材料研究機構）
「シリコン結晶中のヒ素ドーパント原子検出」　大島義文（阪大）
「収差補正CFE-STEMを用いた原子分解能SEM像と3D評価技術」　
稲田博実（日立ハイテクノロジーズ）
「球面収差補正STEM-EDX によるドーパントの高感度定量評価技術」　国宗依信（ルネサスエレクトロニクス）
「収差補正電子顕微鏡を用いた原子分解能観察および分析技術の最前線」　奥西栄治（日本電子)

第63回「グリーンデバイスとそれを支えるSPM技術」

日時：2011年7月28日、29日（金）
場所：慶應義塾大学日吉キャンパス来往舎

7月28日

「Non-Si材料チャネルMOSトランジスタの研究開発動向」高木　信一（東大）
「SiCパワーデバイスの最新動向」四戸　孝（東芝）
「スピン機能MOSFET技術の展開」菅原　聡（東工大）
「不揮発性メモリの最新動向」藤崎　芳久（日立）
「ナノカーボンエレクトロニクス」粟野　祐二（慶大）
「紫綬褒章受章記念講演（SPMの今後の展望）」森田　清三（阪大）

7月29日

「3D-AP法によるSi-MOSFET中不純物分布解析」清水　康雄（東北大）
「相変化メモリデバイスの低電力化とSPM技術への期待」新谷　俊通（AIST）
「SNRSを用いたMOSFETゲートのひずみ評価」保坂　純男（群馬大）
「原子スイッチ（ReRAMへの応用を期待して）と評価」
長谷川　剛（NIMS）
「走査型非線形誘電率顕微鏡（SNDM）技術の最前線」廣瀬　龍介（SII）

第65回「プローブ技術とレオロジー・トライボロジーの接点」

日時：2012年1月10日
場所：東京大学生産技術研究所

「ナノメートルスケールにおける定量的機械特性マッピング」
Chanmin Su (Bruker Nano, Inc.)

「ナノスケールの表面形状と摩擦力、凝着力の関係」
安藤泰久（東京農工大学大学院工学研究院先端機械システム部門）

「粘弾性圧子力学理論の構築、計測装置の開発、ミクロ領域におけるレオロジー計測」逆井基次（豊橋技術科学大学物質工学系）

「超音波原子間力顕微鏡およびAFMラマンのポリマー材料への応用」
片倉大輔（日本カンタムデザイン）

「AFMによる弾性計測ロードマップ –ISO標準化進捗報告−」

中嶋　健（東北大学原子分子材料科学高等研究機構）

第67回「標準化・SPM理論と電気計測最前線」

日時： 2012年7月17日、18日
場所：物質・材料研究機構

7 月 17 日
［標準化］

「走査型プローブ顕微鏡法の国際標準化とロードマップ」
藤田大介（NIMS 先端的共通技術部門）
「トレーサブル測長 AFM による計量標準と標準化への取り組み」
権太聡（産総研計測標準研究部門）
「AFM プローブ特性と関連する国際標準の動向」
井藤浩志（産総研計測フロンティア研究部門）
［ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演］
「走査プローブ顕微鏡による C60分子間結合のナノスケール制御とその素子応用」中谷真人（JST 中嶋ナノクラスター集積制御プロジェクト）

［理論］
「炭素・シリコン界面の超潤滑・接着～グリーントライボロジーに向けて」佐々木成朗（成蹊大学理工学部）

7 月 18 日
［理論］

「液中 AFM および接触過程の理論シミュレーション」
塚田捷（東北大学原子分子材料科学高等研究機構）

［電気計測］
「多探針測定技術による半導体・ナノワイヤの電気計測とロードマップ」長谷川修司（東京大学大学院理学系研究科）
「走査型プローブ顕微鏡を用いた CNT トランジスタの電気伝導特性測定」水谷孝（名古屋大学大学院工学研究科）
「AFM を用いた超格子相変化膜の電気特性」
小高貴浩（産総研連携研究体グリーン・ナノエレクトロニクスセンター
「走査型マイクロ波顕微鏡・ケルビンフォース顕微鏡による局所電気特性測定」相蘇亨（東陽テクニカ）

第69回「磁気イメージング」

日時：2013年1月10日
場所：東京大学生産技術研究所

総会
スピン偏極 SEM
北海道大学小池和幸
トンネル磁気抵抗効果顕微鏡と電磁場再構成法の開発
神戸大学木村建次郎
ベクトル磁場検出・高分解能・近接場磁気力顕微鏡の開発とその高密度磁気記録デバイスへの応用
秋田大学齊藤準 1
SP-STM による世界最小・ナノ分子磁気メモリ
千葉大学山田豊和
強磁性共鳴を利用した磁気イメージング
大阪大学菅原康弘
磁気力顕微鏡を用いた磁性論理演算素子に関する研究
大阪大学野村光中谷亮一
高輝度・高偏極スピン偏極低エネルギー電子顕微鏡と表面磁性の動的観察
大阪電通大安江常夫、鈴木雅彦、越川孝範
磁性 SPM 計測に関するロードマップ
群馬大学保坂純男

第62回「有機化合物をベースとした電気電子デバイス」

日時：2011年4月21日
場所：産総研臨海副都心センター

4月21日

「大面積有機エレクトロニクス」染谷　隆夫（東大院工）
「光電子を用いた有機単結晶のエネルギー準位計測」
石井　久夫（千葉大先進）
「低速電子顕微鏡によるペンタセン成長過程のリアルタイム観察」
齊木　幸一朗（東大新領域）
「インピーダンス分光による有機デバイスの評価」
内藤　裕義（大阪府大院工）
「固体接合型有機太陽電池の界面状態解析」平本　昌宏（分子研）
「有機単結晶界面の電界効果と高性能エレクトロニクス」
竹谷　純一（阪大産研）

第64回
1. 「光と電子の時空間極限ダイナミクス計測」
2.「マイクロ・ナノ領域の熱の計測・制御と熱光発電

日時　2011年4月21日
場所　産総研臨海副都心センター

11月24日「光と電子の時空間極限ダイナミクス計測」

「NSOMによる窒化物半導体におけるキャリアの空間ダイナミクス測定」川上　養一（京都大学）
「NSOMによるプラズモンダイナミクスの可視化」
井村　考平（早稲田大学）
「STMを用いたフェムト秒ポンプ・プローブ分光法とキャリアダイナミクス計測への応用」重川　秀実（筑波大学）
「フェムト波形整形パルスを用いたプラズモンダイナミクスの時空間制御とその計測」神成　文彦（慶應義塾大学）
「時間分解光電子顕微鏡による表面プラズモンの映像化」
久保　敦（筑波大学）
「Thermal Assisted Magnetic Recording」宮本　治一　(日立中研)
「近接場光学顕微鏡とその周辺技術の今後のロードマップ」
斎木　敏治（慶應義塾大学）

11月25日「マイクロ・ナノ領域の熱の計測・制御と熱光発電」

「プローブを用いた熱輻射の近接場計測」花村　克悟（東京工業大学）
「Scanning Thermal Microscopy」中別府　修（明治大学）
「近接場蛍光分光を用いたナノスケール測温技術」
田口　良広（慶應義塾大学）
「シリコン輻射体を用いたマイクロ光熱発電システム」
鈴木　雄二（東京大学）
「マイクロキャビティによる高効率白熱電球」高原　淳一（大阪大学）

第66回「バイオイメージング・計測技術の最先端」

日時：2012年4月19日
場所：産業技術総合研究所臨海副都心センター

コヒーレントX線顕微鏡
石川哲也（理化学研究所）
Overview of SICM Applications and its Future Perspectives in Cell Biology Dr. Sang-Joon Cho（Park Systems Corp.）
質量顕微鏡によるバイオイメージング：現状と将来展望
瀬藤光利（浜松医科大学）
改変蛍光タンパク質を利用した生理機能の可視化
永井健治（大阪大学）
In-Cell NMR法による細胞内分子動態解析
伊藤隆（首都大学東京）
高速バイオSPMイメージングのロードマップ
安藤敏夫（金沢大学）
位相コントラスト電子顕微鏡による生体イメージング
永山國昭（自然科学研究機構生理学研究所）

第68回「固液界面の局所構造に迫る」

日時：2012年10月18日、19日
場所：旅館清山（福島市）

10 月 18 日

液中ＦＭ－ＡＦＭの基本性能の改善
金沢大院自然科学福間剛士
液中 AFM におけるカンチレバーの光熱励振法
東京大海洋アライアンス西田周平
表面力測定装置を用いた超薄膜液体の構造とナノトライボロジー特性評価花王株式会社山田真爾

液中 FM-AFM における最新トピックス
固液界面 SPM 測定のロードマップ
京大院工山田啓文
製品紹介(固液 SPM メーカー(企業会員) )
5-1. 株式会社アサイラムテクノロジー
5-2. 株式会社島津製作所
5-3. パーク・システムズ・ジャパン株式会社

10 月 19 日
表面力測定と界面選択分光法による固-液界面での液体吸着構造評価
東北大多元研水上雅史
第一原理分子動力学法と Tight-Binding 量子分子動力学法による固液界面のトライボケミカル反応ダイナミクス
東北大院工久保百司
中性子反射率測定による固液界面のトライボロジー特性解析
同志社大工平山朋子
X 線反射率測定によるイオン液体界面・電気二重層の構造解析
京都大院工西直哉
電気化学 FM-AFM と光電子分光によるイオン液体／電極界面の局所構造解析阪大院基礎工福井賢一

奨励賞受賞記念講演
高速 AFM によるミオシン V の運動機構に関する研究
金沢大バイオ AFM 先端セ古寺哲幸

第70回「グラフェン・シリセンがもたらすナノ材料のブレークスルー　〜基礎・応用・展望〜」

日時：2013年4月18日
場所：産業技術総合研究所臨海副都心センター

「グラフェンからシリセンへ～理論から見た特徴と課題」
東京大学江澤雅彦
「エピタキシャルシリセン研究とナノプローブ技術」
北陸先端科学技術大学院大学高村（山田）由起子
「銀表面のシリセン、現状と可能性」
東京大学高木紀明

ナノプローブテクノロジー賞受賞講演
「カーボンナノチューブのナノ分子カプセル化における弾性異常と非弾性について ---原子間力顕微鏡と３次元力分光法による研究---」
ハンブルク大学芦野慎
総会
「グラフェンデバイスの現状と課題」
東北大学末光眞希
グラフェンの燃料電池電極触媒への応用」
筑波大学中村潤児
「グラフェンナノ構造形成と物性相関」
九州大学田中悟
ナノカーボン/分子ナノ粒子複合体の電気物性と新機能発現」
大阪大学田中啓文

第71回「新しい大気中・液中市販SPM装置（新技術）と上手な使い方（応用例）」

日時：2013年7月22日、23日
場所：慶応義塾大学日吉キャンパス（来往舎）

7 月 22 日
（公開研究会)

「固液 SPM およびナノサーチ顕微鏡のご紹介」
島津製作所大田昌弘
「Park 技術を向上させた NX10/20, XE-Bio, XE-Wafer の紹介」
パーク・システムズ・ジャパン(株) 金鍾得
「Agilent 5000/6000 シリーズ」
(米国 Agilent Technologies 社) 東陽テクニカ小森研二
「液中 AFM でも性能の差、圧倒的：Cypher AFM と環境制御スキャナー」
オックスフォード・インストゥルメンツ石井孝治
「NanoWizard3 とソフトマテリアルに特化した測定モード」
JPK Instruments AG セールスディレクター齋藤伸裕
「開口型近接場顕微鏡の上手な使い方」
日本分光株式会社分光分析技術部ラマン SPM 課井上勉
高速原子間力顕微鏡 NanoExplorer のご紹介」
生体分子計測研究所森居隆史

7 月 23 日

（非公開）

「Si 系半導体ロードマップ」
産総研 GNC 臼田宏治
「カーボン関連ロードマップ」
横浜国大荻野俊郎 10:30-11:00

ナノプローブテクノロジー奨励賞受賞講演
「３次元走査型原子間力顕微鏡を用いた生体分子/水界面のサブナノメートル分解能計測」金沢大学淺川雅
「NC-AFM2011 & 2012 国際会議報告」
大阪大学森田清三

第73回「太陽電池の開発動向と評価」

日時：2014年1月10日
場所：島津製作所関西支社（梅田）

太陽電池の研究開発動向と今後の展望
豊田工業大学山口真史
薄膜太陽電池の表面電気計測、電位測定、炭素薄膜
岐阜大学伊藤貴司
化合物半導体太陽電池上での光援用SPM
東京大学高橋琢二
色素増感太陽電池の高感度化と電気計装
物質・材料研究機構韓礼元
光STMによる有機太陽電池評価、他
筑波大学吉田昭
高分子で創る薄膜太陽電池：高分子ナノ集合構造の制御による光変換機能の最適化
京都大学辨天宏明

第75回「Nano mechanics for Green Innovation and Life Science」

日時：2014年8月4日
場所：つくば国際会議場

Welcome speech by Prof. Hiroshi ONISHI (Kobe University)

Plenary talk: Prof. Toshio ANDO (Kanazawa University)
High-speed atomic force microscopy for nano-visualization of dynamic processes

Plenary talk: Dr. Bernd GOTSMANN (IBM Zurich)
Heat transfer at the contact of a nanotip and a surface: ballistic aspects

Plenary talk: Prof. Ruben PEREZ (Universidad Autonoma de Madrid)
Calculating Tip-Sample Forces: From UHV to Liquids

Invited talk: Dr. Kenjiro KIMURA (Kobe University)
Nondestructive electric current density imaging inside rechargeable battery cell

Invited talk: Dr. Hiroaki BENTEN (Kyoto University)
Plastic Solar Cells Based on Conjugated Polymer/Polymer Blend Films: Characterization of the phase-separated nanostructure and local electrical properties by conductive AFM

第77回「SPM複合計測機器」

日時：2015年1月8日
場所：東京大学生産技術研究所・駒場リサーチキャンパス

「SPM による化学分析のロードマップ～最近のナノ IR 計測の展開～」
叶際平日産アーク
「AFM / IR ナノケミカル ID とナノ機械特性」
鈴木操ブルカー・エイエックスエス
「Single-molecule Raman spectromicroscopy down to sub-nm spatial resolution」 Zhenchao Dong 中国科学技術大学
「AFM ラマンの現状と課題」吉村雅満豊田工業大学
「AFM と SEM の融合技術および電気計測技術との組み合わせ」
岩田敏一東陽テクニカ

第79回「ガス中環境における表面・界面研究の最先端」

日時：2015年7月23日、24日
場所：東京工業大学キャンパスイノベーションセンター

7月 2 3 日

「光電子放出顕微鏡の最近の進歩とオペランド観察」
朝倉清高北海道大学触媒化学センター
「SPM を使ったリチウムイオン電池電極の電子伝導性評価」
福満仁志住化分析センター
「金属ナノ粒子／半導体界面におけるプラズモン誘起電荷分離」
立間徹東京大学
「ナノシート pn 接合表面の電位勾配と光触媒反応の酸化・還元サイトの観察」伊田進太郎九州大学
「ガス中のナノ粒子の触媒表面研究」竹田精冶大阪大学産業科学研究所

7 月 24 日

「先進の材料開発を新技術でサポートする最新の表面分析装置～オージェ電子分光装置と X 線光電子分光装置～」島政英日本電子(株)
分光分析法と原子間力顕微鏡の融合」中本圭一 WITEC
多様化する AFM 測定を支えるカンチレバー」小澤康介オリンパス（株）
「Ｓｉ系半導体ロードマップ」臼田宏治 (株)東芝
「原子間力顕微鏡のロードマップ」菅原康弘大阪大学工学研究科

第72回「リチウム電池・燃料電池と評価技術」

日時：2013年10月23日
場所：東京大学生産技術研究所

燃料電池

燃料電池可視化計測：オングストロームからセンチメートル
山梨大学犬飼潤治
構造規制した電極表面のその場測定による燃料電池触媒活性と耐久性の高い実構造の解明
千葉大学星永宏

リチウム電池と電気二重層キャパシタ
リチウム電池概要と放射光等を用いたLIB,燃料電池の解析
京都大学内本喜晴
リチウム電池のSPM等による評価
同志社大学稲葉稔
電気二重層キャパシタ：技術的特徴と特性評価
関西大学石川正司

ロードマップ講演
SPMによる電気化学計測のロードマップ
大阪大学福井賢一

第74回「ナノスケール形状・形態計測の最先端」

日時：2014年4月24日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

委員長挨拶大西洋
委員総会
CD-SEM を中心とした先端デバイス形状計測技術
日立製作所田中麻紀
STEM による半導体構造の形状測定
東京大学工学系研究科高増潔
Advances in 3DAFM Technology & Introduction to Peak Force Tapping for advanced semiconductor applications.
Bruker Nano Adam Feinstein
3D AFM Method for Sidewall Roughness Characterization - Effect of Aerial Image Contrast on Resist Sidewall –
Park Systems Corp. Ryan (Young K.) Yoo
微粒子・ナノ粒子測定の新たな挑戦
島津製作所島岡治夫
ナノスケール標準試料のロードマップ
計測標準研究部門権太聡
白色干渉計と AFM の複合装置（新製品紹介）日立ハイテクサイエンス

SPM とそれを補う依頼分析技術の紹介
材料科学技術振興財団
コベルコ科研
住化分析センター

第76回「ナノスケール固液界面研究の最先端」

Date and time: October 23rd and 24th, 2014
Location: Tsukuba International Conference Center

October 23rd

"Background and prospects of solid-liquid interface research using AFM"
Hiroshi Onishi Kobe University Graduate School of Science
“MD calculations on the hydration structure and ion adsorption state of layered silicate crystal surfaces” Hiroshi Sakuma National Institute for Materials Science
Molecular-level analysis of solvation structures using integral equation theory of liquids -Analysis of hydration structures on solid-liquid interfaces and around biomolecules-'' Hirofumi Sato Graduate School of Engineering, Kyoto University
Encouragement Award Lecture: “Exploratory research on interfacial liquid nanostructures using FM-AFM”
Takumi Hisasa Toray Industries, Inc./Kobe University Graduate School of Science
“Evaluation of channel region structure of electric double layer organic FET using FM-AFM and correlation with device characteristics” Yasuyuki Yokota Graduate School of Engineering Science, Osaka University
“Structural analysis of ionic liquid–electrode interface and ionic liquid–alkali halide interface using FM-AFM” Takashi Ichii Graduate School of Engineering, Kyoto University
"Live cell imaging of bacterial surface structure using high-speed AFM"
Higashi Taoka Kanazawa University Department of Science and Engineering

October 24th

“Roadmap Lecture “Imaging three-dimensional surface objects with sub-molecular resolution by AFM using silicon cantilevers as force sensors”” Oscar Custance National Institute for Materials Science
"Analysis of behavior of water molecules near bioinert surfaces by surface force measurement using AFM" Tomohiro Hayashi Graduate School of Science and Engineering, Tokyo Institute of Technology
"New developments in scanning probe microscopy using nanoelectrodes and nanopipettes"
Yasushi Takahashi Tohoku University Advanced Research Institute for Atomic and Molecular Materials Science
“In-situ observation of ice crystal interfaces using laser confocal differential interference microscopy: unit step motion and surface melting” Hajime Sasaki Institute of Low Temperature Science, Hokkaido University

No. 78 “Synthetic polymers and SPM”

日時：2015年4月22日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センタ

「高分子固体の表面・界面精密構造制御による機能発現」
高原淳九州大学
「高分子界面の複合評価と接着」
西野孝神戸大学
「一軸延伸アイソタクチックポリプロピレンの周波数変調検出方式原子間力顕微鏡による観察」
内田公典三井化学 1
「高分子組成物・高分子結晶の相構造解析」
市川央 MORESCO
「SPM による細胞力学計測のロードマップ」
岡嶋孝治北海道大学

第80回「有機材料、有機デバイスとナノプローブテクノロジー」

日時：2015年10月20日、21日
場所：東北大学電気通信研究所（RIEC）

「デバイス部材としての有機材料 ~現状と展望~」
吉田郵司産業技術総合研究所エネルギー・環境領域研究戦略部
「極性分子の配向分極現象と有機薄膜素子の界面特性」
野口裕明治大学理工学部電気電子生命学科
「有機トランジスタ式ガスセンサ～有機の多様性を生かしたガス選択性向上～」森朋彦豊田中央研究所 1
「DNA ナノテクノロジーによる機能性ナノ構造体の構築と評価」
杉山弘京都大学大学院理学研究科物質細胞統合システム拠点
「誘電ナノデバイス研究室の紹介」長康雄東北大学電気通信研究所
「有機、分子材料に関する SPM ロードマップ」
田中秀吉情報通信研究機構

第81回「半導体への顕微鏡応用最前線（SPM、ホログラフィ、AP、HIM）」

日時：2016年1月12日
場所：東京大学駒場キャンパス総合研究実験棟(An 棟) コンベンションホール

半導体デバイスの故障解析の現状と今後
浜松ホトニクス、嶋瀬朗
SNDM による次世代半導体デバイス向け新材料評価
東北大学、長康雄
電子線ホログラフィを用いた微細トランジスタのその場動作観察
名古屋大学、五十嵐信行
特定個所・高空間分解能・高感度 SSRM によるキャリア分布計測技術
東芝、張利
3 次元アトムプローブ法の半導体応用の現状と最近の話題
東北大学、清水康雄
ヘリウムイオン顕微鏡技術による評価と加工
産業技術総合研究所、小川真一

第83回会「二次元層状物質・電位計測」

日時：2016年7月19日、20日
場所：東京工業大学田町キャンパスイノベーションセンター

7月19日

「２次元層状物質の合成及びデバイスの現状と未来展望」
上野啓司（埼玉大学）
「新材料グラフェンを利用した極限高速トランジスタ・集積回路」
尾辻泰一（東北大学）
「高度に制御されたグラフェンのCVD成長とヘテロ構造への展開」
吾郷浩樹（九州大学）
「原子層物質における電荷密度波 -バルク層状物質との類似性・特異性-
清水亮太（東京工業大学）
「ファンデルワールスヘテロ接合の作製と量子輸送現象」
町田友樹（東京大学）
「MoS2デバイス」森貴洋（産総研）

7月20日

「ナノプローブテクノロジー賞受賞講演」福井賢一（大阪大学）
「全固体型リチウムイオン電池と次世代太陽電池のオペランド電位計測
藤田大介（物質・材料研究機構）
「アルミナ薄膜表面上の金属クラスターの表面電位測定」
李艶君（大阪大学）
「時間分解静電気力顕微鏡による有機半導体におけるキャリアダイナミクスの可視化」山田啓文（京都大学）
「酸化グラフェンの VUV 光マイクロ還元とその局所電気特性評価」
一井崇（京都大学）

第85回「ナノプローブテクノロジーを利用した摩擦の研究 -エネルギー散逸と摩擦の制御について-」

日時：2017年4月11日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

「摩擦の散逸エネルギーのフォノン分散曲線」三浦浩二（愛知教育大学）

「ナノスケール摩擦の素過程、エネルギー散逸」
佐々木成朗（電気通信大学）

「摩擦界面のフォノンエネルギー散逸」梶田晴司（豊田中央研究所）

「ナノ厚さ液体膜を介した摺動における摩擦の計測」
福澤健二（名古屋大学）

「探針試料間弾性力ベクトルの3次元マッピング」内藤賀公（大阪大学）

「周波数変調原子間力顕微鏡(FM-AFM)を利用した潤滑界面の直接観察手法と今後の展開」粉川良平（島津製作所）

第87回「ケルビンプローブの応用展開」

日時：2017年11月14日
場所：東京大学生産技術研究所（駒場）

パルスレーザ光を用いた時間分解電位測定」松本卓也（大阪大学）
「KPFMにより観察される不純物ドープSiの表面電位とバンド曲がりによるフェルミレベルピンニングの影響」有田　誠（九州大学）
「KPFMによるTiO2表面の撮像機構の解明と酸化反応過程の観察」
菅原康弘（大阪大学）
「TiO2表面の原子レベルKPFM測定」杉本宜昭（東京大学）
「オープンループ電位顕微鏡による電解液中で生じる電気化学反応分布のナノスケール観察」福間剛士（金沢大学）
「（製品紹介）新方式のKPFM」テックサイエンス

第89回「新生167委員会が提供するシーズとニーズ、委員によるショートプレゼンテーション第二回」

日時：2018年7月31日
場所：東京工業大学田町キャンパスイノベーションセンタ

原子間力顕微鏡による高分子ナノメカニクス研究」
中嶋健 (東工大物質理工学院)
「非接触原子間力顕微鏡／パルスレーザー堆積方複合装置の開発」
阿部真之 (阪大院基礎工)
「AFM計測の最近の話題（液中電荷計測および表面下構造イメージング」山田啓文 (京大院工)
「新SiNカンチレバーの開発」武信貴亮 (オリンパス株式会社)
「ノンコンタクトAFM技術を中心にしたパーク・システムズ社製SPMシリーズについて」寺田昇 (パーク・システムズ・ジャパン株式会社)
「最近の低温SPM装置開発の紹介」岩谷克也 (株式会社ユニソク)
「薄膜光導波路付プローブによる探針増強ラマン分光」
張開鋒 (株式会社日立製作所)
「（製品紹介）ナノレベル赤外分光イメージング」
畔地一昭 (株式会社日本レーザー)
「シエンタオミクロンのSPM新製品（開発の方向性）に関して」
富塚仁 (シエンタオミクロン株式会社)
「リチウムイオン電池の急速充放電時における反応分布評価技術」
常石英雅 (株式会社コベルコ科研)
「レーザードップラー振動計を融合した新しいカンチレバー変位の検出方法とその応用例」
石井孝治 (オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社)
「SPM技術の化学分析への応用～TERS技術を用いたナノスケール分析～」柏木伸介 (株式会社堀場製作所)
「ピエゾ抵抗型自己検知カンチレバーとその応用」
小幡谷育夫　(日本カンタム・デザイン株式会社)
「AppNano社製走査サーマル顕微鏡（SThM）モジュール VertiSense」
小林昭史 (巴工業株式会社)

第82回「先端計測分析技術・機器開発とイノベーション創出」

日時：2016年4月11日
場所：産業技術総合研究所臨海副都心センター

「先端計測分析技術・機器開発－10 年の成果と知的創造プラットフォームの構築－」（基調講演）東京大学（名誉教授）二瓶好正
学振研究開発専門委員会「イノベーション創出に向けた計測分析プラットフォーム戦略の構築」の設立趣旨・活動計画について
一村信吾名古屋大学
ベクトル磁場検出・高分解能・近接場磁気力顕微鏡の開発
齊藤準秋田大学
総会
燃料電池内３次元反応分布可視化装置の開発犬飼潤治山梨大学
近接場偏光顕微技術の開発保坂純男群馬大学
NC-AFM2015 報告菅原康弘大西洋大阪大学神戸大学

第84回「光誘起計測制御技術の最前線」

日時：2016年11月15日
場所：東京大学（駒場）

「電気力顕微鏡ロードマップ」
山田啓文（京都大学）、中村雅一（奈良先端科学技術大学院大学）
「有機分子のキラリティーとSTM発光」桑原裕司（大阪大学）
「フェムト秒時間分解STMによる光誘起ダイナミックスのナノスケール分光」重川秀実（筑波大学）
「近接場顕微鏡の新たな潮流：先端増強ラマン散乱（TERS）顕微鏡と深紫外域への展開」河田聡（大阪大学）
「相変化マスクを用いた近赤外顕微イメージング分光法」
斎木敏治（慶応義塾大学

第86回「単一分子および分子二次元ネットワークの構造と物性」

日時：2017年7月20日
場所：東京工業大学田町キャンパスイノベーションセンター

SERSとI-Vの同時計測による金属—分子局所界面構造の解析」
木口学（東工大院理工）
「二次元metal-organic frameworkを利用したvan der Waals力の精密測定」川井茂樹（NIMS）
「STM発光分光を用いた分子間エネルギー移動の単分子レベル計測」
金有洙（理研）
「サブ10 nmスケールのナノギャップ電極を用いた分子デバイス」
真島豊（東工大フロンティア材料研）
「単一分子と組織化分子ネットワークの非線型伝導理論」
浅井美博（産総研）
「有機導電性ポリマーの2次元超薄膜におけるクーロンブロッケイド伝導」赤井恵（阪大院工）

第88回「新生167委員会が提供するシーズとニーズ、委員によるショートプレゼンテーション」

日時：2018年4月13日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

ナノカーボンの創製と応用研究」吉村雅満 (豊田工大学)
「磁性カンチレバーにマイクロ波を導波する磁気共鳴力顕微鏡」
菅原康弘 (阪大院工)
「酸化物薄膜を利用した全固体電池の固固界面研究」
白木将 (日本工業大学応用化学科)
「表面科学的手法を用いた階層的バイオ界面の解析」
林智広 (東工大物質理工学院)
「STMを用いた電気化学界面の探索: In situ計測とEx situ計測」
横田泰之 (理化学研究所)
「非接触原子間力顕微鏡の引力相互作用を用いたグラフェン系の物性評価」芦野慎 (金沢工業大学)
「電極界面に生じる電気二重層の局所解析とイオン液体デバイス界面への応用」福井賢一 (阪大院基礎工)
「周波数変調原子間力顕微鏡による湿度環境における吸着水/固体界面の高分解能観察」新井豊子 (金沢大理工研究域)
「走査型プローブ顕微鏡が広く使われるための取り組み」
井藤浩志 (産総研)
「AFMによる細胞・組織のメカニクス計測」岡嶋孝治 (北大情報科学)
「原子をカラフルに描き出す～探針を超高速で振動させ、短時間で観察できる原子間力顕微鏡～」川勝英樹 (東大生産技術研究所)
「ナノスペース流体の非線形性のAFMを用いた計測」
影島賢巳 (大阪電気通信大工)
「2次元材料の創製と計測～ゲルマネンを例に～」久保理　(阪大院工)
「ナノスケール標準の開発」菅原健太郎 (産総研)
「受精卵質量測定のためのホルダ型ピエゾ抵抗カンチレバの試作と評価」曾根逸人 (群馬大院理工)
「走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた半導体デバイス観察」
長康雄 (東北大電気通信研究所)
「ナノプローブ技術の複合的発展と応用」
富取正彦 (北陸先端大マテリアルサイエンス系)
「ＡＦＭポテンショメトリによる有機半導体薄膜中キャリア輸送過程の評価と今後の展開」中村雅一 (奈良先端大)
「次世代電池のオペランド・ナノプローブ電位計測」
藤田大介 (物質・材料研究機構)
「材料の微細化が凝着力と摩擦力の関係に与える影響」三宅晃司 (産総研)
「高分解能原子間力顕微鏡を用いた表面分子の観察」
川井茂樹（物質・材料研究機構）

第90回「次世代電池の開発動向とSPM（複合）技術の展開（固体電池・液体電池を中心に）」
「新生167委員会が提供するシーズとニーズ、委員によるショートプレゼンテーション第三回」

日時：2018年12月13日
場所：東京大学生産技術研究所（駒場）

「蓄電池の現状と次世代電池の動向」荒井創（東工大物質理工学院）
「全固体型蓄電池への期待と開発状況」
平山雅章（東工大物質理工学院）
「断面KPFM法を用いた全固体型リチウムイオン電池の内部電位計測」
石田暢之（NIMS）
「放射光による電解液内および電極・電解液界面のその場計測」
高松大郊（日立製作所）
「走査プローブ顕微鏡を用いた蓄電池解析」
湊丈俊（京大産官学連携本部）
「Si系半導体デバイスの開発動向とSPM技術への期待」
臼田宏冶（東芝メモリ株式会社）
「液中AFMによる潤滑油界面の計測評価」大西洋（神戸大）
「周波数変調原子間力顕微鏡のトライボロジ分野への応用」
中島秀郎（株式会社島津製作所）
「バイオAFMの最新技術とアプリケーションのご案内」
鈴木操（ブルカージャパン株式会社）
「高速AFMの仕組みと動画で見るナノスケールの世界」
森居隆史（株式会社生体分子計測研究所）

第91回「生細胞イメージングの最新動向：光学顕微鏡とプローブ顕微鏡」

日時：2019年4月11日
場所：産業技術総合研究所　臨海副都心センター

「生細胞イメージングにおける超解像光学顕微鏡の現状と課題」
岡田康志（理化学研究所、東大院理）
「光シート顕微鏡の原理と近年の動向」野中茂紀（自然科学研究機構）
「ラマン散乱顕微鏡の高速化と高解像度化」藤田克昌（阪大院工）
「高速原子間力顕微鏡による生細胞イメージング」
内橋貴之（名大院理、自然科学研究機構）
「高速SICM による生細胞イメージング」
渡辺信嗣（金沢大ナノ生命科学研究所）
「バイオ向け高速 AFM とその周辺機器のご紹介」
塚本和己（ブルカージャパン株式会社）
「Park Systems 社製 NX12 による細胞イメージング」
長南聡（パーク・システムズ・ジャパン株式会社）

第93回会「データ科学とSPM」

日時：2019 年11月8 日

場所：東京大学生産技術研究所駒場リサーチキャンパス

ナノプローブテクノロジー賞受賞記念講演
福間剛士（金沢大学）
「液中高分解能AFM技術の高速化と多機能化」
「ゴム中のナノ粒子ネットワークの３次元構造観察とデータ科学解析」
萩田克美（防衛大学校）
細胞検索エンジンが拓く生物学・医学の新世界」
磯崎瑛宏（神奈川県立産業技術総合研究所、東京大学大学院理学系研究科）
「オペランドナノ顕微分光への計測インフォマティクス応用」
永村直佳（物質・材料研究機構）
「原子間力顕微鏡とデータサイエンスに基づく生体物質のスクリーニング」
荻野俊郎、田中陽一郎、伊藤和希（横浜国立大学　機器分析評価センター）
「機械学習を用いた応用-距離曲線の自動分類と単一分子力学測定への応用」　田原寛之、林智広（東京工業大学）

第95回「SPM の半導体応用に関する新技術」

日時:2020 年11月 26 日

場所：Webexを用いたweb会議

「MHz帯のバイアス電圧を印加可能なヘテロダイン FM-KPFM の開発 -バルク状態による表面電位と表面状態による表面電位の分離-」
菅原康弘 (大阪大学工学研究科)

「二重バイアス変調静電引力顕微鏡による表面空乏層容量の可変周波数測定」高橋琢二 (東京大学生産技術研究所)

「マイクロドームポリマーを用いた二次元層状物質の三次元操作」
町田友樹(東京大学生産技術研究所)

「SNDM の半導体応用に関する新技術 -時間分解 SNDM による界面欠陥準位の可視化と絶縁膜付き探針を用いた層状構造半導体の観察-」
長康雄 (東北大学電気通信研究所)

「半導体のキャリ濃度計測の ISO 国際標準化の進展 -表面準位の影響をどう取り扱うか-」井藤浩志 (産業技術総合研究所計測標準総合センター)

第97回「SPMと光技術の融合による新展開」

日時：2017年11月14日
場所：東京大学生産技術研究所（駒場）

パルスレーザ光を用いた時間分解電位測定」松本卓也（大阪大学）
「KPFMにより観察される不純物ドープSiの表面電位とバンド曲がりによるフェルミレベルピンニングの影響」有田　誠（九州大学）
「KPFMによるTiO2表面の撮像機構の解明と酸化反応過程の観察」
菅原康弘（大阪大学）
「TiO2表面の原子レベルKPFM測定」杉本宜昭（東京大学）
「オープンループ電位顕微鏡による電解液中で生じる電気化学反応分布のナノスケール観察」福間剛士（金沢大学）
「（製品紹介）新方式のKPFM」テックサイエンス

第99回「有機化合物をベースとした界面デバイスの構築および解析」

日時： 2021 年1月14日

場所：Webexを用いたweb会議

「高性能かつ高信頼性有機半導体の開発」岡本敏宏（東大院新領域）
「電気化学ATR紫外可視分光法による有機半導体/イオン液体界面の電子状
態研究」田邉一郎（阪大院基礎工）
「有機太陽電池開発における製膜技術と移動度計測の進展」
藤井彰彦（阪大院工）
「マイクロ波分光による有機太陽電池材料の解析とハイスループット探索」
佐伯昭紀（阪大院工）
「固液界面における分子の物理・化学吸着によるナノ構造の構築と制御」
田原一邦（明大理工）
「先進薄膜界面機能創成に関する研究」田畑仁（東大院工）

No. 92 “New sensing and dynamics measurement in the nano domain”
(Joint study group with the 182nd Committee on Terahertz Wave Science Technology and Industrial Development)

日時：2019年7月11日
場所：大阪大学医学・工学研究科　東京ブランチ

「界面における百万倍にも増幅した分子認識と分子力学チューニングによる生体分子識別」有賀克彦（物質材料研究機構、東大新領域）
「SPMを用いた核スピンの局所計測」橋本克之（東北大理、同・スピントロニクス学術連携研究教育センター）
「ダイヤモンドNV中心を用いた磁化ダイナミクスセンシング」
安東秀（北陸先端大）
「走査トンネル顕微鏡と光を組み合わせた単一分子分光計測」
今田裕（理化学研究所）
「ナノギャップ電極を用いた単一分子・単一原子のテラヘルツ分光」
平川一彦（東大生産技術研究所）
「位相制御した光励起STMの開発と応用」重川秀実（筑波大）

第94回「高分解能先端電子顕微鏡の最前線」

日時:2020 年 9 月 14 日
場所:Webex を用いた web 会議

「クライオ電子顕微鏡法の技術開発と生命科学への貢献」
難波啓一　(大阪大学大学院生命機能研究科・理化学研究所放射光科学研究センター・生命機能科学研究センター)
「次世代収差補正二次電子顕微鏡の開発と応用」
川﨑忠寛 (一般財団法人ファインセラミックスセンター)
3.「反応科学超高圧走査透過電子顕微鏡の最前線」
武藤俊介 (名古屋大学未来材料・システム研究所高度計測技術実践センター電子顕微鏡計測部)
「国産極限環境 STM/AFM の開発」
宮武優 (株式会社ユニソク)

第96回「実験ツールとしての AI 活用最前線」

日時： 2021 年1月14日

場所：Webexを用いたweb会議

「スパースモデリングによる潜在構造の抽出」
岡田真人（東京大学大学院新領域創成科学研究科）
「バクテリア走化性を利用した溶液評価法の開発」
田中裕人（国立研究開発法人情報通信研究機構未来 ICT 研究所フロンティア創造総合研究室）
「「記憶の解凍」資料の“フロー”化とコミュニケーションの創発による記憶の継承」」渡邉英徳（東京大学大学院情報学環）
「微小構造解析に応用可能な深層学習による画像超解像」
浮田宗伯（豊田工業大学）
「AI を用いた MRI/CT 画像の解析」
韓昌熙（エルピクセル株式会社）

第98回「ナノプローブ生命科学研究の最前線」

日時： 2021年7月29日

場所：Webexを用いたweb会議

「金沢大学ナノ生命科学研究所における活動の紹介」
福間剛士（金沢大学ナノ生命科学研究所）
「高速AFMによる生体分子の動態計測」
古寺哲幸（金沢大学ナノ生命科学研究所）
「ガラスナノピペットを用いた細胞のナノ構造・機能解明に資するプローブ顕微鏡」高橋康史（金沢大学ナノ生命科学研究所）
「"高速AFMで観る"がん関連分子と応用」
松本邦夫（金沢大学ナノ生命科学研究所）
「柱型環状分子ピラー[n]アレーンを基にした超分子集合体・ホスト－ゲスト錯形成のＡＦＭ観測」
生越友樹（京都大学大学院工学研究科／金沢大学ナノ生命科学研究所）

第100回「表面物理の最前線とそれを支えるSPM技術」

日時： 2021年10月29日
場所：Webexを用いたweb会議

「電気二重層トランジスタによる界面物性研究」
岩佐義宏（東大工・理研）
「表面物理とSPM 関連技術の歴史と最前線－ナノプローブによる量子物質表面の研究－」長谷川修司（東大理）
「SPM技術で探る表面物性」長谷川幸雄（東大物性研）
「統計的手法を用いたバックグラウンド除去とステップ高さ推定」
幸坂祐生（理研）
「AFM による表面化学分析と多探針 STM による表面電気伝導測定」
小野田穣（アルバータ大）
「表面分析技術からみた透過電子顕微鏡技術」
杉山昌章（阪大工）

第101回「SPMの今後の展開」

日時：2022年3月3日

場所：Webexを用いたweb会議場所

「ケルビンプローブフォース顕微によるオペランド位測技術の開発と先進材料応用｣石田暢之 (物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点)
「STM と光学技術を組み合わせたナノ分光法の開発」
今田裕 (理化学研究所開拓拓研究本部 Kim表面界面科学研究室)　　
AI-ロボット合成システムを活用した自律的な無機材料研究」
清水亮太 (東京工業大学物質理工学院) 　　
「計算科学を用いた電子-フォノン相互作用の精密解析」
南谷英美 (自然科学研究機構分子科学研究所)　　　　　　　　　　　　　　　　
「高速AFMの性能向上に向けた研究開発」
古寺哲幸 (金沢大学ナノ生命科学研究所)　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
「触媒活性の実空間イメージングに資するプローブ顕微の開発」
高橋康史 (名古屋大学大学院工学研究科電子工学専攻・金沢大学ナノ生命科学研究所ナノ生命科学専攻(兼任))
「時間分解STMを用いた二次元原子層状物質中励起子ダイナミクスのナノイメージング」吉田昭二 (筑波大学・数理物)

第103回会「高分子×SPM」

日時： 2022年7月27日

場所：東京工業大学大岡山キャンパス & Zoom

「高分子材料表面および界面での物性・構造解析～局所領域評価技術を中心に～」生井勝康（三井化学分析センター）（対面）
「バイオマテリアルの液中観察・機械特性評価」
村司雄一（東レリサーチセンター）（オンライン）
「分析現場における実践的な分析事例の紹介」
廿樂英宏（UBE科学分析センター）（対面）
多細胞メカニクスの時空間マッピング測定」
岡嶋孝治（北海道大）（対面）
「高分子鎖の接着初期素過程の直接観察」田中敬二（九州大）（対面）
「AFMで実現する高分子表面のナノ形状・機械特性・化学構造解析」
（メンバー企業講演）横川雅俊（ブルカージャパン）（対面）

第105回「光・他分野融合技術」

日時： 2022年11月25日

場所：日比谷国際ビルコンファレンススクエア & Zoom

「電子線を用いたナノスケール光計測」
三宮工 (東京工業大学　物質理工学院)

「走査プローブ顕微鏡を用いた光圧による光学応答測定」
山根秀勝 (北里大学　理学部)

「テラヘルツエレクトロニクスが明らかにするグラフェン
吉岡克将 (物性科学基礎研究所　量子固体物性研究グループ)

「クライオ１分子ナノスコピー：個々の分子を光で見ること」
藤芳　暁 (東京工業大学　理学院)

「ライブセル高速AFMを用いた細胞膜ナノ動態イメージング」
吉田藍子 (北海道大学大学院　医学研究科)

標準化ＷＧ

今期の標準化WG総括報告井藤浩志

ISO AWARD受賞の紹介中嶋健

ナノ粒子・KPFMのISO国際標準化藤田大介

全体質疑 (5分)

企業発表

「時間分解走査トンネル顕微鏡(新製品)の紹介」
ユニソク岩谷　克也

「近接場赤外顕微鏡『neaSCOPE』によるラベルフリーバイオ・ケミカルイメージング事例紹介」日本カンタムデザイン花牟礼慎也 (オンライン)

「Zurich Instruments ロックインアンプのプローブ顕微鏡分野での応用」Zurich Instruments  野口倫稔

第102回「SPM次の展開〜見えなかったものを見る挑戦〜」

日時： 2022年5月19日

場所：大阪大学基礎工学研究科シグマホール & Zoom

「溶融金属/固体合金界面構造のAFM分析」一井崇（京大）
「軟X線MCD/SPM複合装置と自動計測システムの開発」野村光（阪大）
「AFMによる融点近傍の氷表面観察」宮戸祐治（龍谷大）
「様々な金属酸化物表面の高分解能SPM観察」勝部大樹（理化学研究所）
「高速走査型プローブ顕微鏡の材料科学への応用」山下隼人（阪大）

第104回「SPM×医療・バイオ」

日時： 2022年11月11日

場所： TKP金沢新幹線口会議室　& Zoom

「AFMフォースマッピングと機械学習を組み合わせた細胞内⼒計測とがん細胞診断」Han ZHANG (物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点)
「SICMを⽤いたがん細胞の評価」
渡邉信嗣 (⾦沢⼤学ナノ⽣命科学研究所)
「⾼速原⼦間⼒顕微鏡で広がるDNAナノエンジニアリングの世界」
鈴⽊勇輝 (三重⼤学⼤学院⼯学研究科)
「近接場光学顕微鏡の新技術」⾺越貴之 (⼤阪⼤学⾼等共創研究院)
「⾛査型電気化学セル顕微鏡を⽤いた電池材料評価」
熊⾕明哉 (東北⼤学材料科学⾼等研究所)

企業発表

光励振オフレゾナンスイメージングとその応⽤」
⽇本カンタムデザイン⼩幡⾕育夫
「Asylum ResearchビデオレートAFM Cypher VRS1250のご紹介」
オックスフォード・インストゥルメンツ菅澤祐昭
「⾼速原⼦間⼒顕微鏡によるナノ粒⼦計測のアプリケーション」
⽣体分⼦計測研究所滑川瑛央

第106回「画像実験データへの情報科学応用」

日時： 2023年3月9日（木）

場所：名古屋JRゲートタワー& Zoom

「未踏スケールデータアナリティクスセンター」志賀元紀 (東北大学)
「スパースモデリングを用いたマルチフレーム超解像による放射光顕微分光画像への展開」五十嵐康彦 (筑波大学システム情報系)
「教師なし機械学習を用いた画像解析」⻘柳里果 (成蹊大学理工学部)
「拡張型ランダウ自由エネルギーモデルを用いた磁区構造の解釈の自動化」小嗣真人 (東京理科大学先進工学部)
「ブラッグコヒーレント X 線回折イメージング法によるナノ結晶粒子の 3 次元可視化」町田晃彦 (国立研究開発法人量子科学技術研究開発機)

第１回「設立総会」

第３回「走査型ブロープ顕微鏡の最近の研究動向—高分子／バイオ分野におけるナノプロープテクノロジー」

第５回「ブロープの製作評価」

第７回「ナノテクノロジー」

第９回「高分子と生体膜表面のナノテクノロジー」

第２回「走査型プローブ顕微鏡の最近の研究動向—電子デバイス・プロセスの現場からの走査型プロープ顕微鏡に望むこと—」

第４回「半導体プロセス評価へのSPMの適用と問題—形状評価、標準化」

第６回「キャパシタンス顕微鏡、ケルビンフォース顕微鏡、静電気力顕微鏡 —仕事関数、接触電位差、ドーピングプロファイルをキーワードとして—」

第８回「近接場光学顕微鏡」

第10回「SPMの実用技術への応用」

固液界面における化学反応のナノスケール観察と制御 犬飼 潤治（東北大学大学院工学研究科）

ナノスペース中の水 金子 克美（千葉大学理学部化学科）

コロイドプローブAFM法による表面構造設計した微粒子間相互作用の評価 神谷 秀博（東京農工大学大学院・共生科学技術研究部）

張力増加速度一定モードフォーススペクトロスコピーの開発と一分子計測への応用 武内 修（筑波大学数理物質科学研究科）

（新製品紹介１）ナノプローブテクノロジー製品の最新情報 山下 泰久（(株)東陽テクニカ）

単一分子の電子伝導 藤平 正道（東京工業大学大学院生命理工学研究科）

導電性分子ネックレスの伝導測定 下村 武史（東京農工大学共生科学技術研究部）

近接場光学顕微鏡の開発と高分子の構造解析への応用 青木 裕之（京都大学大学院工学研究科）

（新製品紹介２）温度制御型プローブ顕微鏡によるエポキシ樹脂表面のキャラクタリゼーション 岩佐 真行（エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)）

ナノ計測の展望と課題 安宅 龍明（オリンパス株式会社・未来創造研究所）

ナノ構造計測のロードマップ 小島 勇夫（産業技術総合研究所・計測標準部門）

ナノ物性計測のロードマップ 馬場 哲也（産業技術総合研究所・計測標準部門）

ナノテクノロジーの国際標準化の動向について 一村 信吾（産業技術総合研究所・計測フロンティア研究部門長）

ISO/TC201（Surface Chemical Analysis）におけるSPM標準化の概要 安武 正敏（エスアイアイ・ナノテクノロジー（株）基盤技術開発部）

Si-LSIのロードマップ 岩井 洋（東京工業大学・フロンティア創造共同研究センター）

有機半導体未来予測 八瀬 清志（産業技術総合研究所・光技術研究部門）

単一分子観察技術による生物素構造のダイナミクス 小嶋 寛明（情報通信研究機構・未来ICT研究センター）

電気を流すプラスチックの１分子細線を作る 坂口浩司（静岡大学電子工学研究所・ナノデバイス材料部門）

CNTデバイスの現状と実用化に向けての課題 畠 賢治（産総研・ナノカーボン研究センター）

有機トランジスタの課題とナノプローブ計測 中村雅一（千葉大学大学院工学研究科・人工システム科学専攻）

分子デバイスの創製に向けたナノプローブ計測 真島豊（東京工業大学大学院理工学研究科・電子物理工学専攻）

生物現象のナノ力学（イントロダクトリー） 猪飼 篤（東京工業大学）

インテグリンを介した細胞接着 のメカニズム 高木淳一（大阪大学）

生体情報伝達連鎖機構の単分子力学解析と計算機モデリング 猪飼 篤（東京工業大学）

ナノスケール領域の材料力学 岸本喜久雄（東京工業大学）

タンパク質分子力学の実験と分子動力学シミュレーション 関口博史（東京工業大学）、田上勝規（早稲田大学）

ISO/TC201におけるSPM国際標準化活動の展開 藤田大介（物質・材料研究機構 ナノ計測センター）

７．SPMターミノロジーの標準化の展開 安武正敏（エスアイアイ・ナノテクノロジー（株））

SPMの校正と標準試料（ISO TC201/SC9における標準化の現状） 井藤浩志（産業技術総合研究所 計測フロンティア研究部門）

SPMの使用法の標準化の展開（含むアンケート） 三隅伊知子（産業技術総合研究所 計測標準研究部門）

NSOM/SNOMの標準化の動向と日本の対応 中嶋 健（東京工業大学大学院 理工学研究科）

AFM探針に関する標準化の動向ISO TC201/SC9/SG5 戸田明敏（オリンパス（株））

強誘電体を記録媒体とした超高密度プローブストレージの研究 尾上 篤（パイオニア(株) 総合研究所）

最新の３次元アトムプローブの紹介と分析事例 渡邉 勝巳（アルバック・ファイ(株) ナノテクノロジー事業部）

独ＳＰＥＣＳ社の高速スキャンＳＴＭ及びＬＴ—ＳＴＭ 和田 桂一（アステック(株) 科学計測事業部）

ＳＰＭの測定環境 荒沢 裕之（ヘルツ(株) 営業Ｇ）

ＳＰＭに求める基本性能と機能拡張 日下 貴生（キャノン(株) 先端融合研究所）

最新のプローブ顕微鏡 長村 俊彦（(株)ユニソク）

ナノインデンテーション法及びナノスクラッチ法による層間絶縁膜のナノ機械物性の評価 児嶋 伸夫（(株)日産アーク 研究部物性解析研究室）

１分子追跡による細胞膜上でのシグナル変換の研究 楠見 明弘（京都大学再生医科学研究所）

生細胞の力学的イメージングとその運動の制御 川端 和重（北海道大学大学院生命理学専攻）

先鋭化されたAFMプローブ「ナノ針」による低侵襲な細胞操作技術 中村 史（産業技術総合研究所セルエンジニアリング研究部門）

ナノプローブ法による単一生細胞の解析 長田 俊哉（東京工業大学大学院生命理工研究科）

走査型電気化学・近接場光学・原子間力顕微鏡の開発とバイオ応用 丸山 健一（アナシステクニカ）

SPMを用いた正しい物理量計測を目指して 中嶋 健（東京工業大学 大学院理工学研究科）

自己検知型プローブを利用するAFMの開発とバイオサンプルの観察 本間 克則（㈱生体分子計測研究所）

今後のプローブ開発について」 長谷川 友保（オリンパス㈱ MEMS開発本部）

近接場ラマン分光法を用いたSiの応力分布評価 村上 昌孝（㈱東レリサーチセンター 構造化学研究部）

磁気共鳴力顕微鏡（MRFM）による局所領域のMRI測定 吉成 洋祐（日本電子㈱ 開発本部）

空間分解能100nmをこえる局所ナノ熱解析 山下 泰久（㈱東陽テクニカ 分析システム部）

原子・分子の識別・操作の最新動向と未来 森田 清三（大阪大学 工学研究科）

液中原子・分子の識別・操作の最新動向と未来 山田 啓文（京都大学 工学研究科）

SSRMを用いたCMOSFET極浅接合における電化キャリア分布の2次元高精度計測 張 利（(株)東芝 研究開発センター）

SNDMによる半導体デバイス評価 本田 耕一郎（(株)富士通研究所 基盤技術研究所）

ＳＣＭ・ＳＳＲＭの限界と課題 藤田 高弥（(株)東レリサーチセンター）

静電気力測定による半導体評価の現状と課題 小林 圭（京都大学 産官学連携センター）

原子・分子の識別・操作の今後の課題 杉本 宜昭（大阪大学 工学研究科）

１原子元素分析の可能性 塚田 捷（早稲田大学 先進理工学研究科）

SEM式ナノプロービングシステムの開発 三井 泰裕（(株)日立ハイテクノロジーズ）

単電子デバイスとその場計測の重要性 高橋 庸夫（北海道大学 情報科学研究科）

広がるマルチプローブ技術の最新動向と未来 中山 知信（物質材料研究機構 ナノシステム機能センター）

有機トランジスタのSPM評価 橋詰 富博（(株)日立製作所 基礎研究所）

収差補正透過電子顕微鏡による0.5オングストローム分解能の実現 高柳邦夫（東京工業大学）

走査透過電子顕微鏡（STEM）と電子エネルギー損失分光法（EELS）による原子コラムの可視化 木本浩司（（独）物質・材料研究機構）

透過電子顕微鏡による単分子イメージング 末永和知（（独）産総研ナノカーボンセンター）

高分解能TEMとAFM／STMの複合装置開発によるナノ力学・物性計測 木塚徳志（筑波大学）

ＳＰＭに求める基本性能と機能拡張 日下 貴生（キャノン(株) 先端融合研究所）

SEMによる超低加速高分解能観察 新澤雄彦（日本電子（株））

固液界面における化学反応のナノスケール観察と制御
犬飼潤治（東北大学大学院工学研究科）

ナノスペース中の水
金子克美（千葉大学理学部化学科）

コロイドプローブAFM法による表面構造設計した微粒子間相互作用の評価
神谷秀博（東京農工大学大学院・共生科学技術研究部）

張力増加速度一定モードフォーススペクトロスコピーの開発と一分子計測への応用
武内修（筑波大学数理物質科学研究科）

（新製品紹介１）ナノプローブテクノロジー製品の最新情報
山下泰久（(株)東陽テクニカ）

単一分子の電子伝導
藤平正道（東京工業大学大学院生命理工学研究科）

導電性分子ネックレスの伝導測定
下村武史（東京農工大学共生科学技術研究部）

近接場光学顕微鏡の開発と高分子の構造解析への応用
青木裕之（京都大学大学院工学研究科）

（新製品紹介２）温度制御型プローブ顕微鏡によるエポキシ樹脂表面のキャラクタリゼーション
岩佐真行（エスアイアイ・ナノテクノロジー(株)）

ナノ計測の展望と課題
安宅龍明（オリンパス株式会社・未来創造研究所）

ナノ構造計測のロードマップ
小島勇夫（産業技術総合研究所・計測標準部門）

ナノ物性計測のロードマップ
馬場哲也（産業技術総合研究所・計測標準部門）

ナノテクノロジーの国際標準化の動向について
一村信吾（産業技術総合研究所・計測フロンティア研究部門長）

ISO/TC201（Surface Chemical Analysis）におけるSPM標準化の概要
安武　正敏（エスアイアイ・ナノテクノロジー（株）基盤技術開発部）

Si-LSIのロードマップ
岩井　洋（東京工業大学・フロンティア創造共同研究センター）

有機半導体未来予測
八瀬　清志（産業技術総合研究所・光技術研究部門）

単一分子観察技術による生物素構造のダイナミクス
小嶋寛明（情報通信研究機構・未来ICT研究センター）

電気を流すプラスチックの１分子細線を作る
坂口浩司（静岡大学電子工学研究所・ナノデバイス材料部門）

CNTデバイスの現状と実用化に向けての課題
畠賢治（産総研・ナノカーボン研究センター）

有機トランジスタの課題とナノプローブ計測
中村雅一（千葉大学大学院工学研究科・人工システム科学専攻）

分子デバイスの創製に向けたナノプローブ計測
真島豊（東京工業大学大学院理工学研究科・電子物理工学専攻）

生物現象のナノ力学（イントロダクトリー）
猪飼　篤（東京工業大学）

インテグリンを介した細胞接着のメカニズム
高木淳一（大阪大学）

生体情報伝達連鎖機構の単分子力学解析と計算機モデリング
猪飼　篤（東京工業大学）

ナノスケール領域の材料力学
岸本喜久雄（東京工業大学）

タンパク質分子力学の実験と分子動力学シミュレーション
関口博史（東京工業大学）、田上勝規（早稲田大学）

ISO/TC201におけるSPM国際標準化活動の展開
藤田大介（物質・材料研究機構　ナノ計測センター）

７．SPMターミノロジーの標準化の展開
安武正敏（エスアイアイ・ナノテクノロジー（株））

SPMの校正と標準試料（ISO TC201/SC9における標準化の現状）
井藤浩志（産業技術総合研究所　計測フロンティア研究部門）

SPMの使用法の標準化の展開（含むアンケート）
三隅伊知子（産業技術総合研究所　計測標準研究部門）

NSOM/SNOMの標準化の動向と日本の対応
中嶋　健（東京工業大学大学院　理工学研究科）

AFM探針に関する標準化の動向ISO TC201/SC9/SG5
戸田明敏（オリンパス（株））

強誘電体を記録媒体とした超高密度プローブストレージの研究
尾上篤（パイオニア(株) 総合研究所）

最新の３次元アトムプローブの紹介と分析事例
渡邉勝巳（アルバック・ファイ(株)　ナノテクノロジー事業部）

独ＳＰＥＣＳ社の高速スキャンＳＴＭ及びＬＴ—ＳＴＭ
和田桂一（アステック(株) 科学計測事業部）

ＳＰＭの測定環境
荒沢裕之（ヘルツ(株)　営業Ｇ）

ＳＰＭに求める基本性能と機能拡張
日下貴生（キャノン(株) 先端融合研究所）

最新のプローブ顕微鏡
長村俊彦（(株)ユニソク）

ナノインデンテーション法及びナノスクラッチ法による層間絶縁膜のナノ機械物性の評価
児嶋伸夫（(株)日産アーク研究部物性解析研究室）

１分子追跡による細胞膜上でのシグナル変換の研究
楠見明弘（京都大学再生医科学研究所）

生細胞の力学的イメージングとその運動の制御
川端和重（北海道大学大学院生命理学専攻）

先鋭化されたAFMプローブ「ナノ針」による低侵襲な細胞操作技術
中村史（産業技術総合研究所セルエンジニアリング研究部門）

ナノプローブ法による単一生細胞の解析
長田俊哉（東京工業大学大学院生命理工研究科）

走査型電気化学・近接場光学・原子間力顕微鏡の開発とバイオ応用
丸山健一（アナシステクニカ）

SPMを用いた正しい物理量計測を目指して
中嶋　健（東京工業大学　大学院理工学研究科）

自己検知型プローブを利用するAFMの開発とバイオサンプルの観察
本間　克則（㈱生体分子計測研究所）

今後のプローブ開発について」
長谷川友保（オリンパス㈱ MEMS開発本部）

近接場ラマン分光法を用いたSiの応力分布評価
村上　昌孝（㈱東レリサーチセンター構造化学研究部）

磁気共鳴力顕微鏡（MRFM）による局所領域のMRI測定
吉成洋祐（日本電子㈱開発本部）

空間分解能100nmをこえる局所ナノ熱解析
山下泰久（㈱東陽テクニカ分析システム部）

原子・分子の識別・操作の最新動向と未来
森田　清三（大阪大学　工学研究科）

液中原子・分子の識別・操作の最新動向と未来
山田　啓文（京都大学　工学研究科）

SSRMを用いたCMOSFET極浅接合における電化キャリア分布の2次元高精度計測
張　利（(株)東芝　研究開発センター）

SNDMによる半導体デバイス評価
本田　耕一郎（(株)富士通研究所　基盤技術研究所）

ＳＣＭ・ＳＳＲＭの限界と課題
藤田　高弥（(株)東レリサーチセンター）

静電気力測定による半導体評価の現状と課題
小林圭（京都大学　産官学連携センター）

原子・分子の識別・操作の今後の課題
杉本　宜昭（大阪大学　工学研究科）

１原子元素分析の可能性
塚田　捷（早稲田大学　先進理工学研究科）

SEM式ナノプロービングシステムの開発
三井　泰裕（(株)日立ハイテクノロジーズ）

単電子デバイスとその場計測の重要性
高橋庸夫（北海道大学　情報科学研究科）

広がるマルチプローブ技術の最新動向と未来
中山知信（物質材料研究機構　ナノシステム機能センター）

有機トランジスタのSPM評価
橋詰富博（(株)日立製作所　基礎研究所）

収差補正透過電子顕微鏡による0.5オングストローム分解能の実現
高柳邦夫（東京工業大学）

走査透過電子顕微鏡（STEM）と電子エネルギー損失分光法（EELS）による原子コラムの可視化
木本浩司（（独）物質・材料研究機構）

透過電子顕微鏡による単分子イメージング
末永和知（（独）産総研ナノカーボンセンター）

高分解能TEMとAFM／STMの複合装置開発によるナノ力学・物性計測
木塚徳志（筑波大学）

ＳＰＭに求める基本性能と機能拡張
日下貴生（キャノン(株) 先端融合研究所）

SEMによる超低加速高分解能観察
新澤雄彦（日本電子（株））